目錄
1X射綫的産生和性質
1.1X射綫的本質
1.2X射綫的産生
1.3X射綫譜
1.4X射綫與物質的相互作用
1.5X射綫的探測與防護
2幾何晶體學基礎
2.1晶體結構與空間點陣
2.2晶體對稱的基本概念
2.3晶麵與晶嚮指數
2.4晶體投影
2.5倒易點陣
2.6倒易點陣與正點陣的指數變換
2.7晶帶
3X射綫衍射的幾何原理
3.1晶體點陣對X射綫的衍射
3.2乾涉函數與勞厄方程
3.3布拉格定律
3.4衍射矢量方程和厄瓦爾德圖解
4X射綫衍射綫束的強度
4.1一個電子對X射綫的散射
4.2一個原子對X射綫的散射
4.3單胞對X射綫的散射
4.4一個小晶體對X射綫的散射
4.5粉末多晶體衍射的積分強度
4.6消光效應對衍射強度的影響
5勞厄法及其應用
5.1勞厄相的攝照
5.2勞厄法成相原理和衍射斑點分布規律的解釋
5.3勞厄衍射花樣指數化
5.4晶體取嚮的測定
5.5晶體的定嚮安裝和對稱性的測定
5.6滑移麵和孿生麵的測定
6多晶體衍射的照相方法
6.1粉末法成相原理
6.2德拜－謝樂法
6.3衍射花樣的指數化
6.4輻射的選擇
6.5聚焦照相法
6.6平麵底片照相法
7X射綫衍射儀
7.1衍射儀的基本組成
7.2測角儀的工作原理
7.3晶體單色器
7.4輻射探測器的工作原理
7.5計數測量中的主要電路
7.6計數測量方法和測量參數的選擇
7.7衍射數據采集和數據處理的自動化
7.8衍射峰的積分強度
7.9衍射峰位的確定方法
8X射綫物相分析
8.1定性相分析
8.2定量相分析
9點陣常數的精確測定
9.1原理
9.2德拜－謝樂法的係統誤差
9.3衍射儀法的主要誤差
9.4外推法消除係統誤差
9.5柯亨（M.U.Cohen）最小二乘方法
10宏觀內應力的測定
10.1基本原理
10.2測試技術
10.3應力測定中的幾個相關問題
11晶格畸變及衍射綫形分析
11.1衍射綫的寬化效應
11.2Ka雙綫分離
11.3實測衍射峰與物理寬化效應的關係
11.4衍射峰物理寬化的測定
11.5晶格畸變量和晶塊尺寸的測定
12織構的測定
12.1多晶體材料中的織構和衍射花樣特徵
12.2極圖及其測繪方法
12.3反極圖及其測繪方法
12.4織構的取嚮分布函數
13非晶態物質結構的X射綫衍射分析
13.1非晶態物質結構的主要特徵
13.2非晶態結構的徑嚮分布函數
13.3實驗要求和數據處理
附錄
1.元素的物理性質
2.K係標識譜綫的波長、吸收限和激發電壓
3.元素的質量衰減係數
4.原子散射因子
5.洛倫茲－偏振因子
6.德拜－瓦洛溫度因子
7.吸收因子
8.立方晶係晶麵（或晶嚮）間的夾角
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