Handbook of Microwave Component Measurements

作者:Dunsmore, Joel P.

页数:652

出版时间:2012-11

价格:$ 152.55

isbn号码:9781119979555

具体描述

This book provides state-of-the-art coverage for making measurements on RF and Microwave Components, both active and passive. A perfect reference for R&D and Test Engineers, with topics ranging from the best practices for basic measurements, to an in-depth analysis of errors, correction methods, and uncertainty analysis, this book provides everything you need to understand microwave measurements. With primary focus on active and passive measurements using a Vector Network Analyzer, these techniques and analysis are equally applicable to measurements made with Spectrum Analyzers or Noise Figure Analyzers. The early chapters provide a theoretical basis for measurements complete with extensive definitions and descriptions of component characteristics and measurement parameters. The latter chapters give detailed examples for cases of cable, connector and filter measurements; low noise, high-gain and high power amplifier measurements, a wide range of mixer and frequency converter measurements, and a full examination of fixturing, de-embedding, balanced measurements and calibration techniques. The chapter on time-domain theory and measurements is the most complete treatment on the subject yet presented, with details of the underlying mathematics and new material on time domain gating. As the inventor of many of the methods presented, and with 30 years as a development engineer on the most modern measurement platforms, the author presents unique insights into the understanding of modern measurement theory. Key Features: * Explains the interactions between the device-under-test (DUT) and the measuring equipment by demonstrating the best practices for ascertaining the true nature of the DUT, and optimizing the time to set up and measure* Offers a detailed explanation of algorithms and mathematics behind measurements and error correction* Provides numerous illustrations (e.g. block-diagrams for circuit connections and measurement setups) and practical examples on real-world devices, which can provide immediate benefit to the reader* Written by the principle developer and designer of many of the measurement methods described This book will be an invaluable guide for RF and microwave R&D and test engineers, satellite test engineers, radar engineers, power amplifier designers, LNA designers, and mixer designers. University researchers and graduate students in microwave design and test will also find this book of interest.

用户评价

这本书，我对它抱持着一种既期待又略带忐忑的心情。说实话，微波测量这个领域，对我而言，就像是一门深奥的语言，充斥着我不太熟悉的缩写和符号。我更多的时候是处理一些偏向软件开发和系统集成的工作，对于底层的硬件调试和参数测量，虽然有接触，但总感觉隔着一层看不见的纱。这本书，我希望它能够像一位耐心细致的老师，用通俗易懂的语言，引导我一步一步地理解那些复杂的概念。我特别想知道，它在介绍测量方法时，是否会结合实际的仪器设备，给出具体的操作步骤和注意事项？如果书中能够有一些图文并茂的演示，那就更好了。我希望它能帮助我建立起对微波元器件测量的基本认知，至少让我以后在和硬件工程师交流时，能够更顺畅地理解他们讨论的内容。

这本书的出现，对我来说，就像在茫茫学海中找到了一座灯塔，尽管我还无法确定它照亮的是哪一片海域。我是一名刚踏入微波工程领域不久的研究生，对于那些繁复的仪器操作和精细的数据分析，总是感到力不从心。理论知识学了不少，但当真要动手去测量一个射频耦合器的 S 参数，或是校准一个矢量网络分析仪时，总觉得少了点什么。这本书，我猜想，会是填补我这方面知识空白的绝佳选择。我尤其好奇它对不同测量场景和应用场景的解读，比如在雷达系统、卫星通信或者射频识别领域，微波元器件的测量会有哪些侧重点和特殊要求？书中是否会提供一些实际案例分析，让我能够将理论知识与实际应用相结合？我多么希望能在这本书中找到那些关于“为什么”和“如何做”的详尽解答，而不是仅仅停留在“是什么”的层面。

作为一名在行业内摸爬滚打多年的资深工程师，我对技术文档的挑剔程度不亚于对电路设计的严谨。拿到这本《微波元器件测量手册》时，我带着一种审视的目光，它是否真的能触及到我多年来在实际工作中遇到的那些“疑难杂症”？毕竟，很多看似简单的测量，背后却隐藏着复杂的物理效应和精妙的工程技巧。我更关注的是它在深入探讨测量原理的同时，能否提供实用的、可操作的建议。比如，针对不同类型的元器件，如滤波器、放大器、混频器等，是否有详细的测量流程、仪器选型指南，甚至是故障排除的技巧？我希望这本书不是那种纸上谈兵的理论堆砌，而是能够真正帮助我提高测量效率，减少不必要的返工，从而优化产品性能。当然，我也希望它能在一些前沿的测量技术上有所突破，让我了解到行业内的最新动态。

这本书，我刚拿到手，厚度就让我有点吃惊，感觉像块砖头。封面设计倒是挺朴实无华的，不是那种花里胡哨的。翻开第一页，扑面而来的是密密麻麻的英文术语，瞬间觉得自己掉进了一个技术的大染缸里。我平常接触到的微波领域，更多的是概念性的东西，比如信号传播、天线原理之类的，对于具体的元器件测量，了解得并不算深入。这本手册，一看就知道是那种深入到底层的工具书，估计里面的公式、图表能把我看得眼花缭乱。我期待它能为我打开一扇新的窗户，让我看到那些隐藏在电路板背后的微波世界的奥秘。尤其是那些关于校准、误差分析的部分，这通常是新手最容易头疼的地方，希望这本书能用一种相对易懂的方式来解读，即使不能完全掌握，至少也能让我对这些概念有个更清晰的认识。总的来说，这本书给我一种“硬核”的感觉，需要我投入相当多的精力和时间去消化。

对于我这样一名在射频前端设计领域摸索多年的开发者来说，一本关于微波元器件测量的权威手册，简直就是雪中送炭。我常常在设计过程中遇到一些瓶颈，明明理论上看起来一切都应该正常，但实际测试出来的数据却总是偏离预期。这种时候，我最需要的就是一本能够帮助我诊断问题的工具书。我希望这本《微波元器件测量手册》能够深入剖析各种测量误差的来源，并提供有效的消除或补偿方法。例如，在测量低损耗元器件时，仪器本身的损耗如何影响最终结果？连接电缆的特性是否需要考虑？如何准确地评估元器件的线性度、噪声系数以及功率容量？我期待这本书能够提供一套系统性的测量框架，让我能够更自信地进行元器件的选型和性能验证，从而推动我的设计项目向前发展。