Digital Systems Testing and Testable Design一書,是全美大學生和研究生優秀教材,比較係統地介紹瞭結構測試的理論和方法、可測性設計理論和度量方法、測試數據的處理及簡化的理論和方法以及智能芯片(處理器、數字信號處理器和自動機等)測試理論和方法等。該書共有15章,分為3部分。前8章為第一部分,主要介紹數字係統、數字微係統芯片缺陷的來源、邏輯描述的方法——故障的建模、故障模擬、測試單固定故障、測試橋接故障、智能數字係統的功能測試及其範圍等;第9章~第14章是第二部分,主要介紹數字係統的可測性設計理論和方法、建內自測試BIST測試數據壓縮方法等現代測試理論和方法;第15章足第三部分,主要討論係統測試的方法。該書概念清晰層次分明、定義和證明準確、算法推導和闡述簡練。每章附有大量練習題可幫助讀者對於概念的消化吸收。
發表於2024-11-05
數字係統測試和可測性設計 2024 pdf epub mobi 電子書 下載
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這是一本1991年的書,內容比較老瞭,可以建立些基本概念吧。
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