智能机内测试理论与应用

出版者:第1版 (2002年1月1日)

作者:温熙森

页数:236

出版时间:2002-1-1

价格:20.0

装帧:精装(无盘)

isbn号码:9787118026511

机内测试是一种能显著改善装备或系统测试性与诊断能力的重要技术手段。采用BIT技术研制开发复杂机电系统和装备，能大幅度提升装备系统的整体性能。近年来，国外开始重点研究BIT中的智能理论与方法以进一步提高BIT的综合效能。智能BIT目前正逐步在多个领域得到验证，应用前景广阔。

本书在综述国内外BIT技术研究应用发展的基础上，系统阐述了智能BIT的理论、技术、方法，重点就BIT的智能设计、智能检测、智能故障诊断和智能维修决策等四个方面的理论、技术和国内外最新应用实例进行了分析和论述。

本书是国内第一部较为全面、系统地论述智能BIT理论和技术的专著，对提高新型武器装备和复杂机电系统的测试性、维修性设计水平具有重要的指导作用，适合从事装备系统设计和可靠性工程研究应用的工程技术人员及相关专业的大专院校师生阅读、参考。