自动变速器维修

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出版者:电子工业出版社
作者:徐昭
出品人:
页数:244
译者:
出版时间:2002-9-1
价格:19.00
装帧:平装(无盘)
isbn号码:9787505379442
丛书系列:
图书标签:
  • 自动变速器
  • 变速箱
  • 维修
  • 汽车维修
  • 汽车技术
  • 机械工程
  • 故障诊断
  • 保养
  • 技术手册
  • 汽车
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具体描述

本书主要讲述底盘的基本结构、工作原理、拆装要求、零件耗损分析与检验分类、故障诊断与排除、维护与修理方法等方面的知识。在编写内容上,本着循序渐进的原则,着重突出本学科的科学性和系统性,做到理论联系实际,通俗易懂。在内容的取舍上,照顾了广度,控制了深度,符合当前汽车运用与维修行业对中等专业人才知识的要求。

好的,这是一份关于一本名为《自动变速器维修》的图书的简介,其中完全不涉及自动变速器的维修内容: 《现代集成电路设计与应用》 书籍简介 前言:技术时代的基石与创新驱动 在信息技术飞速发展的今天,集成电路(IC)已成为驱动现代电子设备和信息系统的核心动力。从智能手机到高性能计算,从物联网设备到复杂的航空航天系统,无处不在的芯片构筑了我们数字生活的物理基础。本书《现代集成电路设计与应用》旨在为读者提供一个全面、深入且极具实践指导意义的视角,探讨当代集成电路从概念设计、架构选择、工艺实现到最终系统集成的全过程。我们不仅关注理论的严谨性,更强调前沿技术的实际应用,力求将复杂的半导体物理与工程实践无缝衔接。 第一部分:集成电路基础与设计流程 本书的开篇将系统梳理集成电路领域的理论基石和设计范式。 第一章:半导体器件物理回顾与CMOS基础 本章首先回顾了PN结、双极型晶体管的基础知识,随后聚焦于当前主流的互补金属氧化物半导体(CMOS)技术。我们将详细解析MOSFET的工作原理、工艺制造中的关键步骤(如光刻、刻蚀、离子注入),以及不同代工厂技术节点(如7nm、5nm)对器件特性的影响。重点讨论短沟道效应、亚阈值导通、以及对低功耗设计至关重要的阈值电压控制技术。 第二章:数字集成电路设计方法学 本章深入探讨了从抽象的系统需求到具体的门级网表的设计流程。内容涵盖:硬件描述语言(VHDL与Verilog)的精深应用、逻辑综合的优化目标(面积、速度、功耗)、静态时序分析(STA)在验证设计正确性中的核心地位。我们还将介绍设计中的层次化方法,如何有效地划分模块边界以提高设计效率和可维护性。 第三章:模拟与混合信号电路基础 模拟电路是实现物理世界与数字世界接口的关键。本章详细讲解了运算放大器(Op-Amp)的设计原理,包括反馈理论、频率补偿技术,以及匹配、噪声、失真等关键性能指标的权衡。此外,我们还将介绍模数转换器(ADC)和数模转换器(DAC)的架构分类(如流水线型、Sigma-Delta型)及其在高速数据采集中的应用。 第二部分:高级设计主题与系统集成 随着集成度的提高,设计挑战不再局限于单个电路块,而是上升到系统级别。 第四章:低功耗集成电路设计技术 功耗是移动和便携式设备设计的核心瓶颈。本章系统地介绍了多种低功耗设计策略,包括:动态电压频率调整(DVFS)、时钟门控(Clock Gating)、电源门控(Power Gating)的应用场景与实现机制。我们还将探讨在工艺PPA(性能、功耗、面积)三要素中,如何通过架构创新实现功耗的量级降低。 第五章:高速电路与信号完整性 在GHz级别的操作频率下,互连线的寄生参数对信号质量影响巨大。本章聚焦于高速设计中的挑战,包括串扰分析、电磁兼容性(EMC)考虑。详细阐述了传输线效应、端接技术(如串联端接、并联端接)的选择,以及如何通过版图设计优化,确保数据传输的完整性。 第六章:集成电路测试与可制造性设计(DFM) 任何复杂的芯片都需要可靠的测试方案。本章讲解了可测试性设计(DFT)的技术,如扫描链插入(Scan Chain Insertion)、内建自测试(BIST)的原理与架构。同时,探讨了如何将制造工艺的限制反馈到设计流程中,以提高良率(Yield)和最终产品的可靠性。 第三部分:新兴技术与未来展望 本部分着眼于集成电路领域的前沿发展趋势和未来可预见的重大技术变革。 第七章:先进封装技术与异构集成 摩尔定律放缓的背景下,3D集成和先进封装成为提升系统性能的关键。本章详细介绍了2.5D(如硅中介层)和3D(如TSV,硅通孔)技术的工作原理、热管理挑战以及如何实现不同功能芯片(如CPU、内存、加速器)的高密度互联。 第八章:专用集成电路(ASIC)与系统级芯片(SoC)架构 本章对比了通用处理器与专用加速器的设计哲学。重点分析了现代SoC的设计流程,包括IP核的复用、总线架构的选择(如AMBA AXI/AHB),以及如何通过硬件加速器(如AI推理引擎)来平衡通用性和特定任务的性能需求。 第九章:安全与可信赖设计 随着芯片应用范围的扩大,安全威胁日益突出。本章探讨了硬件层面的安全防护措施,包括随机数生成器的设计、侧信道攻击(Side-Channel Attacks)的原理分析,以及如何在芯片架构层面嵌入物理不可克隆函数(PUF)以实现硬件信任根(Root of Trust)。 结语:实践是检验真理的唯一标准 本书不仅是理论的阐述,更是实践的指南。每一章都辅以大量的工程实例和设计案例分析,鼓励读者将所学知识应用于实际的EDA工具链中。我们相信,通过对本书内容的深入学习和实践,读者将能够驾驭现代集成电路设计的复杂性,成为推动信息技术未来的中坚力量。

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