彩电检修集成电路参考手册

彩电检修集成电路参考手册 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:上海科学普及出版社
作者:吴耕
出品人:
页数:424
译者:
出版时间:2001-1-1
价格:19.00
装帧:精装(无盘)
isbn号码:9787542718877
丛书系列:
图书标签:
  • 彩电
  • 检修
  • 集成电路
  • 电子技术
  • 维修手册
  • 电器
  • 家用电器
  • 技术参考
  • 电路分析
  • 故障排除
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具体描述

现代光电技术在显示设备中的应用前沿 图书简介 本书深入探讨了当前显示技术领域,特别是现代光电技术在各类显示设备中的前沿应用与发展趋势。全书聚焦于液晶显示(LCD)、有机发光二极管(OLED)、量子点(QD)技术,以及新兴的微显示技术(如MicroLED)在实际工程应用中的核心原理、关键挑战与解决方案。 第一部分:显示技术基础与原理革新 本部分首先回顾了传统显示技术向现代光电显示过渡的关键技术节点,重点阐述了半导体材料在光电转换中的核心作用。 第一章:显示技术概述与材料科学基础 本章详细解析了从阴极射线管到平板显示技术的演进历程。着重介绍了构成现代显示面板的几类关键功能性材料:液晶分子(Liquid Crystals)的介电各向异性和光学各向异性如何实现精确的光调制;有机半导体材料在OLED中的电致发光机制,包括单线态和三线态激子的利用效率问题;以及量子点材料的光致发光特性及其在色域扩展中的潜力。内容涵盖了这些材料在不同工作环境下的稳定性、寿命预测模型,以及对环境因素(如温度、湿度、紫外线)的敏感性分析。 第二章:驱动电路与像素结构设计 本章深入讲解了驱动现代高分辨率、高刷新率显示屏所需的前沿集成电路设计理念。重点分析了薄膜晶体管(TFT)阵列在像素级开关控制中的作用,区分了LTPS(低温多晶硅)和氧化物半导体(如IGZO)TFT在载流子迁移率、漏电流控制和功耗优化方面的优劣。同时,详细阐述了主动矩阵驱动(Active Matrix Driving)的刷新时序控制(Timing Controller, T-CON)原理,以及为实现高动态范围(HDR)显示所需的PWM(脉冲宽度调制)或类PWM驱动方案中的信号完整性挑战。 第二部分:核心显示技术深入剖析 本部分将篇幅集中于当前主流与下一代显示技术的具体实现细节、性能瓶颈与工程优化策略。 第三章:先进液晶显示(LCD)的背光与色彩管理 尽管OLED技术发展迅速,但高可靠性与成本优势使得LCD仍占据重要市场份额。本章聚焦于如何通过先进的背光技术来弥补LCD在对比度和黑阶方面的固有缺陷。详细介绍了直下式LED背光(Direct LED Backlighting)的区域控光(Local Dimming Zone)技术,包括其算法复杂性、光晕效应(Blooming Effect)的抑制方法。此外,深入探讨了广色域技术,如利用蓝色LED配合增强型量子点膜(Enhancement Film)实现DCI-P3乃至Rec. 2020色域覆盖的具体光学路径设计和光谱匹配要求。 第四章:有机发光二极管(OLED)的效率与寿命提升 OLED是当前高端显示的核心技术。本章详细剖析了不同发光材料体系的特性,包括荧光(Fluorescence)到磷光(Phosphorescence)再到热激活延迟荧光(TADF)的效率提升路径。重点分析了OLED器件寿命限制的主要因素,特别是蓝色像素的寿命衰减机制,及其在电荷注入、传输层材料选择和电极材料匹配性方面所做的结构性改进,如界面钝化技术和电荷平衡设计。对于柔性OLED(Flexible OLED),本章还探讨了封装技术(Barrier Film)对水氧渗透的控制标准及其长期可靠性评估方法。 第五章:下一代显示:MicroLED与微显示技术 MicroLED被视为终极显示技术,本章着重分析其实工程化过程中最棘手的技术难题——巨量转移(Mass Transfer)。详细介绍了用于MicroLED芯片的转移技术,包括激光辅助转移、流体动力学转移以及基于探针的电极接触转移技术。讨论了如何解决MicroLED阵列中的像素失效率问题,以及在微米级尺度下对检测、修复和驱动电路集成(Monolithic Integration vs. Chip-on-Glass)的创新方案。此外,也涵盖了适用于虚拟现实(VR)和增强现实(AR)头戴设备的硅基驱动微显示器(如LCoS和基于CMOS的MicroOLED)的亮度、效率和FOV(视场角)设计考量。 第三部分:系统集成与性能优化 本部分将视角从单个像素上升到整个显示系统,探讨如何通过软件、算法和系统级设计来优化最终用户体验。 第六章:视频处理与图像质量提升算法 本章聚焦于显示系统中的数字信号处理链。详细阐述了先进的运动补偿与插帧技术(Motion Estimation/Compensation)在降低高帧率视频中的感知延迟和运动模糊方面的应用,特别是针对体育赛事和游戏场景的优化策略。同时,深入探讨了基于内容的图像增强(Content-Aware Image Enhancement)算法,如动态对比度映射(Tone Mapping)、色彩空间转换(Color Space Conversion)中的非线性处理,以及如何通过精确的伽马校正(Gamma Correction)曲线来匹配不同显示标准(如BT.1886, ST.2084 PQ)。 第七章:系统级功耗管理与热设计 现代显示系统,特别是移动设备和大型数字标牌,对功耗和散热提出了极高要求。本章分析了驱动背光模块(对于LCD)和像素驱动电路(对于OLED/MicroLED)的整体功耗模型。讨论了如何通过自适应刷新率技术(VRR/Adaptive Sync)和动态电压/频率调节(DVFS)来在保证视觉流畅度的前提下最大化能源效率。此外,还涵盖了高亮度显示面板(如HDR应用)在散热受限环境下,为避免材料降解而实施的亮度降额(Dimming)策略的工程实现。 第八章:显示系统可靠性、测试与故障诊断 本章提供了从实验室验证到生产线质量控制的系统性方法论。详细介绍了用于评估显示屏寿命和环境适应性的加速老化测试(Accelerated Life Testing)标准和方法。涵盖了对像素缺陷(如坏点、漏电、串扰)的自动化光学检测(AOI)流程,以及在系统集成层面,如何通过边界扫描(Boundary Scan)和内置自检(BIST)电路来快速定位驱动芯片和面板线路层面的故障。本书为显示工程师和技术研发人员提供了一个全面、深入且具有前瞻性的技术参考框架,旨在推动下一代高性能、高能效显示设备的工程实践与创新。

作者简介

目录信息

读后感

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用户评价

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我发现这本书最令人称道的一点,是它对“常见问题”和“特殊故障”的归类处理非常到位。大部分维修手册侧重于标准流程,但真正令人头疼的往往是那些不常见的、偶发的“疑难杂症”。这本书在这方面的着墨不少,它列举了大量在实际维修中遇到的棘手情况,比如间歇性花屏、特定温度下的工作异常、或者由外部干扰引发的莫名其妙的色彩漂移等。对于这些问题,它不仅仅提供了一个“可能的原因”列表,更重要的是,它指导读者如何利用示波器和万用表的组合,通过追踪信号路径和电压波动,来隔离和确认故障的源头。这种由表及里、层层递进的诊断思路,对于提升维修人员的综合判断能力有着不可替代的作用。这本书就像一位经验老到的导师,教会你如何“思考”问题,而不是仅仅告诉你“如何解决”问题。

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我必须强调这本书在资料的系统性和详尽性上的卓越表现。在数字化设备维修日益普及的今天,很多关于模拟电路和特定功能模块的深入解析已经逐渐从主流维修资料中消失了。这本书似乎有意地将这些“失落”的知识点重新整合、系统化地呈现了出来。我特别欣赏它对色彩处理和信号解调部分的论述。它没有将这些复杂的过程一概而论,而是细致地拆分了亮度、色度处理的各个子模块,并对几种主流的彩色制式(如PAL/NTSC)在电路层面的差异进行了对比分析。这种深入到电路层面的对比,对于理解不同地区彩电设计上的细微差别至关重要。我曾试图从一些网络论坛上拼凑相关知识,但信息零散且真伪难辨,而这本书提供了一个经过编纂、逻辑严密的信息集合。可以说,它是一部集大成之作,为我们保留了宝贵的模拟电视时代的维修智慧。

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这本被誉为“电子工程师案头必备”的工具书,我入手已经有一段时间了,说实话,它给我带来的帮助远超我的预期。初拿到手的时候,我主要是冲着那个“集成电路参考”的名头去的,想着里面应该会是密密麻麻的芯片引脚定义和参数表。然而,翻开目录才发现,这书的广度令人吃惊。它不仅仅停留在冰冷的参数堆砌,更深入到了彩色电视机显像管(CRT)时代到如今液晶显示(LCD/LED)的技术演进脉络中。特别是关于早期的行/场扫描电路,它用近乎白描的手法,将那些晦涩难懂的脉冲生成和驱动原理,通过清晰的图示和详尽的文字描述,变得清晰可见。我记得上次修理一台老式纯平彩电时,主控芯片之一的电源部分出了毛病,资料极其难找,但这本书里关于开关电源控制IC的常见故障模式分析,简直是神来之笔,直接帮我定位了振荡电路的反馈环节问题。那种解决掉一个顽固故障后的成就感,很大程度上要归功于这本书提供的扎实理论基础和实战经验的结合。它教会我的,不是简单地替换元件,而是理解为什么这个元件会失效,以及整个系统是如何协同工作的。

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作为一名业余电子爱好者,我对市面上那些动辄涉及高深理论的专业书籍往往望而却步,总觉得门槛太高。但这本书的厉害之处就在于,它在保持专业深度的同时,极大地照顾了不同层次读者的阅读体验。它的叙述风格非常平实,就像一位经验丰富的老技师在手把手教你。拿故障排查那一部分来说吧,它不像某些手册那样只给出“如果出现A现象,检查B点”的指令,而是会详细分析A现象背后的几种可能原因,并给出每种原因对应的测试步骤和工具选择建议。这对于我这种经常在硬件和软件诊断之间来回切换的人来说,简直是福音。比如,讲到伴音功放的过热保护机制时,它不仅列出了保护电路的工作流程,还配上了几张非常关键的测试波形图,直观地展示了电路在正常和异常状态下的信号差异。这种注重实践的讲解方式,极大地增强了我对电路故障诊断的信心,让原本复杂的维修过程变得有章可循,不再是盲目试错。

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说实话,这本书的装帧和排版也体现了对读者友好的考量。虽然内容技术性极强,但印刷质量相当不错,文字清晰,电路图和方框图的线条分明,即使用久了,关键标记也不会模糊。更让我感到贴心的是,它在引用标准参数或特定IC型号时,通常会附带一些历史背景说明,这使得读者在查阅资料时,不会觉得自己在面对一堆冷冰冰的数字,而是能感受到这些技术是如何一步步发展和成熟的。例如,它在讨论某款视频处理器时,会提及该系列芯片的迭代过程,这对于判断二手设备中可能存在的“混用”元件非常有用。这种带有“人情味”的编写风格,让阅读过程变得轻松愉快,而不是一种枯燥的查字典行为。这种对细节的关注,往往是优秀技术书籍与普通参考资料拉开差距的关键所在。

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