嵌入式技术与系统

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出版者:北京航大
作者:陈章龙
出品人:
页数:440
译者:
出版时间:2004-2
价格:45.00元
装帧:
isbn号码:9787810774369
丛书系列:
图书标签:
  • 自动化
  • 嵌入式
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  • 电路设计
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  • 系统设计
  • 硬件开发
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具体描述

本书从计算机系统结构和开发应用角度出发,介绍了目前最流行的嵌入式处理器ARM体系结构及指令系统。在此基础上,本书系统地介绍了Intel公司32位嵌入式处理器XScale架构,应用处理机PXA250的总体结构、存储组织、系统集成单元和I/O外围控制模块,XScale开发调试方法,以及在嵌入式Linux与Windows CE支持下的开发应用方法。

本书内容新颖,系统全面,适合作大专院校高年级本科与研究生的教材,也可作为信息技术人员的嵌入式系统软/硬件设计参考书。

《跨界融合:现代电子设备的构建与优化》 内容概述: 本书旨在深入探讨当代电子系统设计与实现领域的前沿技术与实践,重点关注硬件平台、软件架构以及它们之间高效协同的关键策略。我们不再局限于单一技术栈的讲解,而是将视角扩展到整个系统层面,解析如何将分散的电子元件、复杂的算法模型以及对用户体验的深刻理解融合成一个稳定、高效且具有市场竞争力的终端产品。 第一部分:新型硬件平台与微控制器架构 本部分将彻底剖析当前主流微控制器(MCU)和系统级芯片(SoC)的最新发展趋势。我们将详细介绍基于ARM Cortex-M/R/A系列架构的最新迭代,特别是针对低功耗、高实时性和安全性的优化特性。 异构计算单元的集成: 深入探讨如何利用片上集成的专用加速器,如数字信号处理器(DSP)、图形处理单元(GPU)或现场可编程门阵列(FPGA)逻辑区域,来卸载CPU的计算负担。我们将分析不同类型加速器在图像处理、机器学习推理和复杂控制算法中的具体应用场景及其性能考量。 存储体系结构与内存管理: 详细阐述非易失性内存(NVM)技术,如MRAM和ReRAM在嵌入式系统中的应用前景,以及传统SRAM、DRAM在实时系统中的数据布局优化策略。重点讨论内存保护单元(MPU)和内存管理单元(MMU)在构建安全隔离环境中的配置与调试方法。 高可靠性与故障容忍设计: 针对工业控制、医疗设备等关键领域,本书将介绍硬件冗余技术(如锁步内核、双总线架构)和错误校验码(ECC)在寄存器和内存层面的实现细节,以确保系统在极端环境下的持续稳定运行。 第二部分:实时操作系统与并发编程模型 现代电子系统往往需要同时处理大量异步事件。本章将重点解析实时操作系统(RTOS)的设计哲学及其在复杂任务调度中的应用。 内核机制深度解析: 不仅局限于标准调度算法(如固定优先级、轮询调度),还将探讨如互斥锁、信号量、消息队列和事件标志等同步原语的正确使用和潜在的死锁防范机制。特别关注确定性延迟的实现路径。 面向多核的编程范式: 随着多核SoC的普及,如何高效利用并行计算资源成为核心挑战。本书将介绍基于消息传递(如Actor模型)和共享内存模型的并发编程实践,并对比OpenMP、TBB等并行框架在资源受限环境下的适用性。 固件与驱动程序的抽象层设计: 探讨硬件抽象层(HAL)和板级支持包(BSP)的最佳实践,确保软件的可移植性和模块化。我们将展示如何构建健壮的设备驱动程序,以应对总线冲突和中断竞争问题。 第三部分:网络通信与边缘智能集成 现代嵌入式设备不再是孤立的个体,它们是物联网(IoT)生态系统中的关键节点。本部分聚焦于设备间的安全、高效通信以及在本地实现智能处理的能力。 低功耗广域网络(LPWAN)与本地连接协议栈: 详细对比LoRaWAN、NB-IoT在覆盖范围、功耗和数据速率上的权衡。在本地连接方面,深入解析Thread、Matter协议栈的组网特性和安全密钥交换机制。 信息安全与信任根(Root of Trust): 嵌入式安全是重中之重。本书将讲解硬件级安全特性,如可信执行环境(TEE,如TrustZone)、安全启动流程(Secure Boot)的实现,以及固件空中下载(OTA)更新过程中的完整性校验和加密签名验证。 资源受限环境下的机器学习(TinyML): 讨论如何将预训练的深度学习模型(如CNN、RNN)量化、剪枝和优化,使其能够在资源极其有限的微控制器上进行实时推理。我们将介绍TensorFlow Lite Micro等框架在特定硬件上的部署流程与性能调优技巧。 第四部分:系统级验证、调试与生命周期管理 一个成功的电子产品需要经历严格的验证和可靠的维护。本章提供从原型到量产的全生命周期管理视角。 基于模型的系统设计(MBSD): 介绍如何利用Simulink/Stateflow等工具进行系统行为建模和仿真,并在早期阶段发现设计缺陷,从而加速迭代过程。 高级调试技术: 超越简单的JTAG/SWD调试,我们将深入探讨逻辑分析仪在总线时序分析中的应用、非侵入式探针(如ETM)的使用,以及如何利用硬件断点和跟踪缓冲器来捕获罕见的瞬时错误。 生产测试与良率管理: 探讨针对大批量产品的自动测试设备(ATE)策略,包括边界扫描技术、功能性测试向量的设计,以及如何通过统计过程控制(SPC)来监控和提升生产良率。 本书面向有一定电子工程或计算机科学基础的工程师、高级技术人员和研究生,它提供的是一套面向未来、跨学科的系统构建哲学和实用的工程方法论,旨在培养设计者应对下一代复杂电子系统挑战的能力。

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