目錄
前言
1 基本概念
1.1 同位素和放射性
1.2 放射性的基本定律和單位
1.3 輻射源
1.3.1 密封輻射源的特性
1.3.2 密封性的檢驗和判據
1.3.3 輻射源的使用和商品化
1.4 輻射與物質的相互作用
1.4.1 α輻射
1.4.2 β輻射
1.4.3 Υ輻射
1.4.4 中子輻射
2 輻射探測係統
2.1 電離室
2.2 正比計數管
2.3 G－M計數管
2.4 半導體探測器
2.5 閃爍計數器
2.5.1 閃爍體
2.5.2 光電倍增管
2.5.3 工作穩定性
2.5.4 閃爍能譜測量
2.5.5 帶半導體光敏器件的閃爍探測器
2.6 工業核儀錶中的探測器
3 測量方法和測量儀錶
3.1 同位素測量方法
3.1.1 直接測量
3.1.2 差分測量
3.1.3 補償測量
3.1.4 自動校準
3.2 統計測量誤差
3.3 放射性同位素測量儀錶
3.3.1 用於信號處理的電子學係統
3.3.2 通用測量係統
3.3.3 智能測量儀錶
3.3.4 多道測量裝置
3.4 控製係統
4 極限值指示
4.1 放射性同位素的極限值指示（Υ繼電器）
4.2 適用於解決極限值指示問題的幾種放射性同位素裝置
4.3 料位指示器Υ繼電器的應用
4.4 料位指示器在自動控製中的應用
5 料位測量
5.1 吸收式料位測量儀錶
5.2 跟蹤式料位測量儀錶
5.3 Υ定位剖麵測量
5.4 利用放射性同位素探測進行料位控製
5.5 料位測量和工藝監督
6 厚度測量
6.1 利用放射性同位素進行厚度測量
6.2 放射性同位素厚度測量裝置
6.3 厚度測量裝置的應用
6.4 厚度（錶麵質量）控製
6.5 利用厚度測量儀錶進行工藝監督
7 鍍層厚度測量
7.1 基於β輻射反射技術的鍍層厚度測量
7.2 基於β輻射反射技術的鍍層厚度測量裝置
7.3 利用β輻射反射原理進行鍍層厚度測量的應用
7.3.1 锡鍍層厚度的測定
7.3.2 鋅鍍層厚度的測量
7.3.3 銀鍍層厚度的測量
7.3.4 金鍍層厚度的測量
7.3.5 雙鍍層厚度的測量
7.3.6 塑料和塗料塗層厚度的測量
7.3.7 其它塗層厚度的測量
7.3.8 鏜孔電鍍層厚度的測量
7.4 利用X射綫熒光測量層厚
8 密度測量
8.1 利用Υ輻射吸收法進行密度測量
8.2 測量位置的設計
8.2.1 測量倉的充滿度
8.2.2 氣泡
8.2.3 測量管中的沉積
8.2.4 測量管的磨損
8.2.5 吸收長度的選定
8.2.6 校準可能性的保證
8.3 密度測量儀錶
8.4 放射性同位素密度計的應用
9 水分含量測量
9.1 利用中子慢化法測量水分含量
9.2 濕度計的工藝應用
9.2.1 水分含量不變的混閤料的生産
9.2.2 供給特定量水分
9.2.3 帶質量修正的加料
10 利用核儀錶測定材料成分
10.1 以輻射吸收原理工作的儀錶
10.1.1 β輻射吸收的應用
10.1.2 Υ輻射吸收的應用
10.2 利用輻射反射（散射）進行測量
10.2.1 β輻射反射的應用
10.2.2 Υ輻射反射的應用
10.3 次級輻射的測量
10.3.1 由β輻射産生的次級輻射的測量
10.3.2 由Υ輻射産生的次級輻射的測量
10.3.3 熒光輻射的測量
10.4 中子輻射的應用
10.4.1 活化分析
10.4.2 自發核反應的應用
10.4.3 中子吸收和散射的應用
10.5 Υ輻射的選擇相互作用
10.6 根據天然放射性測定材料成分
11 核方法的其它工業應用
11.1 輸送帶上的連續測量
11.2 包裹內裝物品的檢查
11.3 利用Υ輻射吸收探測煙
11.4 靜電荷的消除
11.5 可攜式核儀器
11.5.1 土壤密度和水分含量的測量
11.5.2 利用反射技術進行壁厚測量
11.5.3 料位測定計
12 工業用放射性同位素測量裝置的建立
12.1 裝置的適當選定和數據獲取
12.2 規劃應用
12.3 現場操作
12.4 輻射防護
12.4.1基本原理
12.4.2輻射源容器
參考文獻
附錄
· · · · · · (收起)