目錄
第一篇 緒論
第一章 輻射源
1.1單位和定義
1.2快電子源
1.3重帶電粒子源
1.4電磁輻射源
1.5中子源
第二章 輻射與物質的相互作用
2.1重帶電粒子與物質的相互作用
2.2快電子與物質的相互作用
2.3γ射綫與物質的相互作用
2.4中子與物質的相互作用
2.5輻射照射量和劑量
第三章 輻射探測器的一般特性
3.1探測器的簡化模型
3.2電流工作方式與脈衝工作方式
3.3脈衝幅度譜
3.4計數麯綫和坪
3.5能量分辨率
3.6探測效率
3.7死時間
第四章 計數統計學和誤差預測
4.1數據的特徵
4.2統計模型
4.3統計模型的應用
4.4誤差傳遞
4.5計數實驗條件的優選
4.6時間間隔分布
第二篇 氣體探測器
第五章 電離室
5.1氣體中的電離過程
5.2電荷的遷移與收集
5.3電流電離室的設計和運用
5.4用電離室測量輻射劑量
5.5直流電離室的應用
5.6脈衝工作方式
第六章 正比計數管
6.1氣體倍增
6.2正比計數管的設計特徵
6.3正比計數管的性能
6.4探測效率和計數麯綫
6.5正比計數管的幾種變體設計
第七章 蓋革－彌勒計數管
7.1蓋革放電
7.2填充氣體
7.3猝滅
7.4時間特性
7.5蓋革計數坪
7.6設計特徵
7.7計數效率
7.8G－M監測儀
第三篇 閃爍計數器
第八章 閃爍探測器的原理
8.1有機閃爍體
8.2無機閃爍體
8.3光的收集和閃爍體的安裝
第九章 光電倍增管
9.1引言
9.2光陰極
9.3電子倍增
9.4光電倍增管的特性
9.5光電倍增管所要求的輔助設備
9.6閃爍脈衝形狀分析
第十章 用閃爍體的輻射能譜學
10.1γ射綫能譜學的一般原理
10.2γ射綫相互作用
10.3預計的響應函數
10.4NaI（T1）閃爍譜儀的特性
10.5用閃爍體的電子譜儀
10.6以閃爍現象為基礎的特殊探測器結構
第四篇 半導體探測器
第十一章 半導體二極管探測器
11.1半導體的性質
11.2電離輻射在半導體中的作用
11.3作為輻射探測器的半導體
11.4半導體探測器的各種結構
11.5工作特性
11.6麵壘探測器與擴散結探測器的應用
第十二章 鋰漂移鍺探測器
12.1離子漂移探測器的製造
12.2漂移探測器的基本性質
12.3Ge（Li）探測器的工作特性
12.4用Ge（Li）探測器的γ射綫譜學
第十三章 其它固體探測器
13.1鋰漂移矽探測器
13.2高純鍺探測器
13.3矽、鍺以外的其它半導體材料
13.4雪崩探測器
13.5位置靈敏半導體探測器
第五篇 中子探測器和能譜學
第十四章 慢中子探測方法
14.1與中子探測有關的核反應
14.2以硼反應為基礎的探測器
14.3根據其它轉換反應製成的探測器
14.4反應堆儀錶
第十五章 快中子探測和快中子譜學
15.1以中子慢化為基礎的計數器
15.2以快中子誘發反應為基礎的探測器
15.3利用快中子散射的探測器
第六篇 探測器電子學和脈衝處理
第十六章 脈衝的處理與成形
16.1器件阻抗
16.2同軸電纜
16.3脈衝成形
第十七章 綫性脈衝和邏輯脈衝功能
17.1綫性脈衝和邏輯脈衝
17.2儀器標準
17.3脈衝處理單元一覽
17.4通用部件
17.5脈衝計數係統
17.6脈衝幅度分析係統
17.7脈衝定時係統
17.8脈衝波形甄彆
第十八章 多道脈衝分析器
18.1單道測量法
18.2多道分析器的一般特性
18.3多道分析器
18.4能譜的穩定
18.5用計算機作能譜分析
第七篇 其它輻射探測器及應用
第十九章 其它類型的探測器
19.1切倫科夫探測器
19.2液體電離室和正比數管
19.3照相乳膠
19.4熱釋光劑量計
19.5徑跡蝕刻探測器
19.6活化箔探測中子
第二十章 本底和探測器屏蔽
20.1本底來源
20.2γ射綫譜中的本底
20.3其它探測器的本底
20.4屏蔽材料
20.5降低本底的現行方法
附錄 輻射效應和照射極限
1.輻射效應
2。劑量的定量化
3。照射類型
· · · · · · (收起)