电子衍射物理教程

电子衍射物理教程 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:冶金工业出版社发行部
作者:王蓉
出品人:
页数:317
译者:
出版时间:2002-3
价格:49.80元
装帧:简裝本
isbn号码:9787502429232
丛书系列:
图书标签:
  • 电子衍射
  • 材料学
  • 材料
  • TEM
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  • 衍射物理
  • 固体物理
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  • 表面物理
  • 纳米材料
  • 教学教材
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具体描述

《电子衍射物理教程》内容简介:在纳米材料和纳米技术蓬勃发展的今天,电子显微学方法,特别是直接观察固体中原子尺度微观结构的高分辨电子显微学方法已是材料研究者必不可少的研究手段。会聚束电子衍射等技术迅速被科研工作者熟悉和掌握,人们迫切需要把得到的电子衍射和像衬度信息定量化,以揭示材料的微观结构和成分变化。《电子衍射物理教程》系统论述了电子衍射和电镜相位衬度以及衍射衬度像成像的物理过程并进行了数学描述。全书分为8章,第1章阐述波动光学基础和信息传递过程的基本数学处理方法;第2章论述电子衍射运动学理论;第3章阐述成像系统相位衬度成像(高分辨成像)的物理过程并进行数学描述;第4章介绍实际高分辨电子显微像衬度理论、像计算和图像处理方法;第5章和第6章分别阐述电镜衍射衬度成像的运动学理论和完整晶体的动力学理论;第7章叙述多束动力学理论计算的几种简化和近似处理方法,对利用三束动力学交互作用测定结构振幅的方法做了概括的介绍;第8章系统介绍非完整晶体的衍射衬度像动力学计算方法。《电子衍射物理教程》可作为固体物理、材料科学等专业研究生“衍射物理”课程的教科书,以及相关专业教师,研究生和高年级本科生“电子显微学”课程的教学参考书,同时可供使用电子显微镜的科研人员参阅。

《光学成像原理与技术》 本书深入探讨了光学成像的根本原理,从经典波动光学到现代衍射理论,系统阐述了光波如何与物质相互作用并形成图像。全书旨在为读者构建一个坚实的光学成像理论基础,并在此基础上介绍一系列关键的光学成像技术及其在不同领域的应用。 第一部分:光学成像基础理论 本部分将从基础出发,逐步深入光学成像的本质。 第一章:光的波动性与传播 介绍了光的电磁波模型,包括惠更斯原理和菲涅尔衍射积分,以此解释光的传播规律。 详细讲解了干涉现象,包括相干性、光程差以及明暗条纹的形成条件,并介绍杨氏双缝干涉和薄膜干涉等经典实验。 深入分析了衍射现象,包括夫琅禾费衍射和菲涅尔衍射,并以单缝、双缝、圆孔和光栅的衍射为例,阐述了衍射的数学描述和物理意义。 第二章:成像系统中的几何光学 回顾了斯涅尔定律、全反射等基本概念,并在此基础上介绍了透镜和反射镜的光学特性。 详述了成像方程、放大率、垂轴放大率等关键参数,并分析了单透镜和多透镜成像的特性。 系统讲解了成像系统的像差,包括球差、彗差、像散、场曲和畸变,并介绍了消除或减轻像差的常用方法,如光阑、多透镜组合等。 第三章:成像系统的分辨率与调制传递函数 引入了分辨率的概念,包括瑞利判据和艾里斑,用以衡量成像系统的分辨能力。 详细阐述了调制传递函数(MTF)理论,将其作为描述成像系统性能的更全面、更严谨的工具。 分析了MTF与衍射、像差、采样等因素的关系,并介绍了如何通过MTF曲线评估和设计成像系统。 第二部分:现代光学成像技术 本部分将聚焦于现代光学成像领域发展迅速、应用广泛的关键技术。 第四章:数字成像技术 介绍了CCD和CMOS等图像传感器的基本原理和结构。 详述了图像的数字化过程,包括采样、量化和编码。 深入探讨了数字图像处理的基本概念和常用算法,如滤波、边缘检测、形态学处理和图像增强等。 讨论了数字成像中的噪声来源及其抑制方法。 第五章:全息术原理与应用 系统讲解了全息成像的基本原理,包括全息图的记录和再现过程。 介绍了不同类型全息图的特点,如振幅型、相位型、透射型和反射型全息图。 详述了全息术在信息存储、防伪、艺术创作等领域的应用。 第六章:相干成像技术 重点介绍了激光在光学成像中的作用,及其在相干成像中的应用。 详细讲解了激光干涉仪的原理和类型,及其在精密测量中的应用。 探讨了相干成像技术在显微成像、非破坏性检测等领域的优势。 第七章:计算成像技术 介绍了计算成像的概念,即利用计算方法来克服传统成像系统的限制。 详述了计算成像中的关键技术,如光场成像、合成孔径成像、光断层扫描(OCT)等。 分析了计算成像在三维成像、超分辨率成像、多光谱成像等方面的突破性进展。 第三部分:光学成像的应用领域 本部分将展示光学成像技术在各个科学和工程领域的重要应用。 第八章:显微成像技术 回顾了传统光学显微镜的原理,并重点介绍了现代高性能显微镜,如共聚焦显微镜、荧光显微镜、扫描探针显微镜等。 探讨了显微成像技术在生物学、材料科学、纳米技术等领域的研究价值。 第九章:遥感成像技术 介绍了遥感成像的基本原理,包括可见光、红外、微波等成像方式。 详述了遥感成像在地球科学、环境监测、资源勘探、军事侦察等领域的应用。 第十章:医学成像技术 概述了医学成像技术的发展历程,并重点介绍了X射线成像、CT、MRI、超声成像、PET等关键技术。 讨论了医学成像在疾病诊断、治疗规划、医学研究等方面的重要作用。 第十一章:机器视觉与图像识别 介绍了机器视觉的基本概念和关键技术,包括图像采集、预处理、特征提取、目标检测和识别。 详述了图像识别在工业自动化、智能交通、安防监控、人机交互等领域的应用。 本书结构清晰,逻辑严谨,理论阐述深入浅出,并辅以大量的图示和实例,力求使读者能够系统地掌握光学成像的原理和技术,并能够理解其在现代科技中的广泛应用。本书适合光学、物理、电子工程、信息科学、生物医学工程、自动化等相关专业的学生、研究人员以及工程技术人员阅读。

作者简介

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读后感

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用户评价

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读完这本教程,我最大的感受是它在处理实验细节上的独到之处。很多理论书籍往往在推导出关键方程后就戛然而止,留给读者自行脑补实验操作的难度。然而,这本书却非常务实地花了大篇幅去讲解电子源的类型、样品制备的常见陷阱,以及如何校准仪器以获得高质量的衍射花样。特别是关于TEM(透射电子显微镜)操作的那几章,作者似乎是以一个资深实验员的口吻在叙述,对于如何避免漂移、如何精确控制聚焦,都有非常实用的建议。例如,它详细对比了明场和暗场成像的原理差异,并配有不同衬度成像的实例分析,这对于刚接触电镜的科研人员来说,简直是救命稻草。谈到衍射图谱的解析,书中不仅提供了标准晶体的标准图谱,还特意加入了一些非晶态或缺陷结构衍射图的分析案例,这极大地拓宽了我们的思维边界,让我们意识到衍射现象远比理想化的单晶体要复杂得多。这本书的实用性,完全超出了我对其“教程”定位的预期,更像是一本实战手册。

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从排版和配图的角度来看,这本教程的用心程度也令人印象深刻。很多物理教材的图表往往是黑白、低对比度的示意图,读起来费力。但这本书的插图质量非常高,无论是晶体结构的三维透视图,还是衍射花样的模拟与实测对比图,都清晰锐利,层次分明。特别是那些用于解释散射矢量和倒易空间关系的几何图示,标注准确,逻辑性强,使得复杂的空间关系一目了然。此外,作者在关键公式旁边设置了专门的注释框,解释了变量的物理意义和适用条件,有效避免了读者在阅读长篇推导时忘记关键假设的尴尬。这种细致入微的设计,极大地提升了阅读的舒适度和信息的吸收效率。总而言之,这不仅仅是一本内容扎实的教材,更是一件设计精良的知识载体,体现了出版方对学术质量和读者体验的双重承诺。

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这本书的叙事节奏把握得非常精准,有一种层层递进的、水到渠成的感觉,阅读体验流畅得令人惊喜。它没有一开始就抛出复杂的数学难题,而是通过物理图像的构建,逐步引导我们理解电子与晶格的相互作用机制。例如,作者在解释德拜-沃勒因子时,并没有直接引用复杂的指数形式,而是先从原子热振动对散射强度的削弱效应入手,用宏观的、可感知的物理图像来解释微观的衰减规律,这种从现象到本质的过渡非常自然。随后,当我们真正接触到动态衍射理论时,之前建立的直观理解就成了我们理解贝纳尔(Bethe)二级衍射的坚实跳板。不同于其他教材中处理贝纳尔理论时那种生硬的矩阵代数堆砌,这里的讲解侧重于物理意义的阐释——即多次散射如何改变了透射电子束的能量和角度分布。这种循序渐进的教学策略,使得原本公认的难点章节,在我阅读时也感觉豁然开朗,极大地增强了我的学习信心。

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这本《电子衍射物理教程》绝对是我近期读到的最让我耳目一新的教材之一。作者在组织材料时,显然花了不少心思去平衡理论的深度与教学的直观性。开篇部分对晶体学基础的回顾,不同于那种枯燥的公式堆砌,而是通过一系列精心挑选的实例,比如X射线在不同晶格中的散射行为,巧妙地将读者引入到晶体结构分析的核心概念中。我尤其欣赏它对布拉格定律的阐述,没有停留在教科书式的简单介绍,而是深入探讨了衍射峰的宽度与晶粒尺寸之间的关系,这对于任何想要从事材料科学实验的初学者来说,都是至关重要的铺垫。更进一步,书中对于倒易点阵的引入,处理得非常流畅自然,它不是一个孤立的数学工具,而是紧密结合了傅里叶变换和电子波函数的概念,让读者能真正理解为什么倒易空间在描述衍射现象时如此高效。讲解晶体对称性时,作者没有采用繁琐的群论语言,而是侧重于几何直观的理解,这极大地降低了初学者的门槛,使得那些原本觉得晦涩难懂的对称操作变得清晰可见。整体来看,这本书为我构建了一个坚实而又易于攀登的知识阶梯,为后续深入学习高分辨电子显微镜技术打下了坚实的基础。

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我必须得说,这本书在深入探讨电子衍射与材料结构性能关联性方面做得非常出色,展现了极高的学术水准。它超越了单纯的结构确定工具书的范畴,真正将衍射物理融入到材料科学的前沿研究中。书中关于高能电子衍射(HEED)和低能电子衍射(LEED)在表面科学中的应用对比分析,视角独特且深入。作者清晰地界定了这两种技术在信息深度和作用范围上的根本差异,并结合具体的表面重构模型,展示了如何通过LEED的莫尔斯(Morsee)分析来确定表面原子的层数和排列方式。更值得称道的是,书中对衍射强度分析的讨论,没有回避定量分析的挑战。它详细阐述了如何利用衍射斑点的相对强度来反演原子在晶格中的具体位置,这部分内容对从事纳米材料和薄膜研究的读者来说,无疑是极具价值的宝藏。它不仅告诉你“能看到什么”,更重要的是教会你如何“理解你所看到的东西背后的物理机制”。

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比较经典的教材。写的非常细致。几乎可以作为手册了。就是对于模拟的部分没有怎么提及。

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