电工电子基本元器件检测技巧

出版者:中国电力

作者:杜虎林

页数:198

出版时间:2006-5

价格:22.00元

装帧:简裝本

isbn号码:9787508340869

具体描述

本书是“实用电工电子元器件检测技巧丛书”的《电工电子基本元器件检测技巧》分册。它是一本全面、系统地介绍基本元器件常用知识、检测方法与技巧的实用技术读物。全书由八章及附录A—G组成。八章内容依次为：检测电阻器、检测电位器、检测固定电容器、检测电解电容器、检测电感器、检测晶体二极管、检测晶体三极管、检测电子管。附录A—G给出了部分基本元器件的主要参数。书中在重点介绍使用指针万用表与数字万用表检测基本元器件的一般操作步骤与技巧的同时，还给出了部分检测实例与实测数据。

本书具有内容丰富，资料翔实，图文并茂，深入浅出，实用性强等突出特点。它适合具有初中以上文化程度的各类电子爱好者阅读使用。

用户评价

我本来希望这本书能涵盖一些特定领域元器件的检测，比如功率半导体（IGBT、SiC器件）在高温或高压环境下的动态特性测试，或者光电器件（如光耦、光敏电阻）的线性度与响应时间测量。然而，这本书的范畴非常保守，几乎所有的案例和技巧都集中在最经典的、低功耗的通用元器件上：电阻、常见的双极型晶体管、小型电解电容和普通二极管。对于那些在新能源、电动汽车或者先进通信领域工作的专业人士来说，书中介绍的检测方法显得过于基础和传统。它对参数漂移的讨论也仅限于简单的温度影响，缺乏对加速老化测试（HALT/HASS）的深入探讨。例如，如何通过非破坏性的方式检测芯片内部的键合线是否虚焊，这本书没有提供相应的超声波扫描或声学成像技术的应用指南。所以，这本书更像是为电子技术专业的入门课程准备的参考书，它成功地教会了如何判断一个基础元件是否“健在”，但对于现代高可靠性、高频、大功率电子系统中的特殊元器件的检测，它提供的指引是严重不足的。

我对这本书的期望是它能提供一套系统性的、可量化的元器件失效模式分析（Failure Analysis, FA）流程。我希望看到标准化的测试步骤、数据记录格式以及失效报告的模板。但《电工电子基本元器件检测技巧》给我的感觉更像是一本充满经验主义色彩的“秘籍”。它的结构松散，更倾向于描述在特定情境下，通过特定工具（比如特定的电桥或LCR表）会观察到什么样的“非正常”现象。例如，书中对电位器接触不良的描述，不是给出电阻值波动的范围，而是详细描述了旋转旋钮时，示波器上出现的“沙沙”声对应的波形特征。这种描述方式虽然生动，却缺乏严谨的工程化标准。它没有提供任何关于如何建立数据库来追踪特定批次元器件的长期可靠性数据的方法。这本书更像是师傅传授给徒弟的“口诀”，充满了对经验和手感的强调，对于需要撰写符合ISO标准的测试文档的工程师来说，这本书提供的直接帮助非常有限，因为它侧重于“怎么做”的细节，而非“为什么”的规范。

这本《电工电子基本元器件检测技巧》的封面设计着实吸引人，那种带着复古金属光泽的插图，立刻让人联想到精密仪表的刻度盘和闪烁的焊点。我原本是想找一本关于现代电路设计与软件仿真方面的书籍，毕竟现在很多工作都转移到了虚拟环境。然而，当我翻开这本书时，发现它完全聚焦于“手感”和“经验”。书中详尽地描述了如何通过万用表、示波器甚至是肉眼和听觉来判断一个电阻、电容、电感或晶体管的“健康状况”。特别是关于如何识别被烧毁的半导体元件，那段关于闻气味和观察封装体微小形变的描述，简直像是一位经验丰富的老电工在耳边传授秘诀。书中没有提及任何最新的EDA工具操作流程，也没有深入探讨FPGA或微控制器编程。它更像是一本扎根于实验室角落、充满机油味和松香气味的工具手册，强调的是那些在数字化浪潮中快要失传的、依赖于操作者直觉的硬核技能。对于希望快速掌握最新设计流程的工程师来说，这本书可能略显“过时”，但对于那些需要维护老旧设备、或者想打下扎实底层元件知识基础的初学者来说，它提供了一个极为宝贵的、强调实践操作的视角。它让我重新思考了“检测”的本质，不仅仅是读出数字，更是对元器件“生命状态”的判断。

我最近在研究一些关于高频电路的稳定性问题，期待能找到一本能深入讲解阻抗匹配网络设计以及S参数分析的书籍。然而，这本《电工电子基本元器件检测技巧》却将我的注意力拉回到了最基础的元器件个体层面。它几乎没有涉及复杂的网络理论或者矩阵运算，所有的篇幅都留给了如何精确地测量一个看似简单的MLCC电容的等效串联电阻（ESR），以及如何通过特定的波形在示波器上“听”出电感线圈是否虚焊或短路。我印象最深的是关于晶体管“曲线追踪”那一章，作者详细地图解了不同工作状态下BJT和MOSFET的I-V特性曲线在示波器上应该呈现出的完美形态，并对比了参数漂移时的偏差。这让我意识到，在追求高精度的系统设计之前，对构成系统的每一个“砖块”的质量了如指掌是多么重要。这本书完全是为动手能力而非纯理论推导服务的，它要求读者将手指和眼睛变成最灵敏的传感器。如果你期待看到关于诸如Smith圆图或者EMC规范的深度讨论，这本书会让你失望，因为它的一切都停留在“这个零件还能不能用”的阶段，但这恰恰是许多高级设计项目失败的根本原因所在——基础不牢。

说实话，我买这本书的初衷是希望它能帮助我快速熟悉行业内最前沿的自动化测试设备（ATE）的编程和配置。我需要了解如何编写脚本来快速批量测试数千个贴片元件。然而，这本书的内容仿佛是从上世纪八九十年代的维修车间直接搬过来的。它对自动化和大规模测试几乎只字未提，反而花费了大量篇幅来教导如何使用老式的模拟万用表进行“电压降测试”来区分PN结的质量。书中对数字存储示波器的描述也停留在基础的触发和时基设置上，完全没有涉及到序列分析、协议解码或者高速信号捕获的复杂功能。它更像是一本面向维修工程师而非研发工程师的指南。我甚至在其中找到了一段关于如何使用烙铁“热风”来重新激活性能不稳定的钽电容的描述，这在现代无铅焊接标准下几乎是禁忌操作。总体来看，这本书的价值在于“溯源”和“排故”，它能让你在没有先进设备的情况下，通过最朴素的物理现象来理解电子学原理，而不是帮助你构建一个高效的、现代化的质量控制流程。