Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems pdf epub mobi txt 电子书下载 2026

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出版者:Prentice Hall PTR

作者:Alfred Crouch

出品人:

页数:347

译者:

出版时间:1999-06-15

价格:USD 98.00

装帧:Paperback

isbn号码:9780130848277

丛书系列:

图书标签:

测试
嵌入式软件
DFT
Digital IC Testing
Embedded Systems
Testability
Scan Design
Boundary Scan
Built-In Self-Test
Fault Simulation
Verification
IC Design
Hardware Testing

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具体描述

Practical DFT guide from an industry insider. Helps you optimize the engineering trade-offs between such resources as silicon area, operating frequency, and power consumption, while balancing the corporate concerns. CD-ROM included. DLC: Digital integrated circuits - Design and construction.

《Design-for-Test for Digital ICs and Embedded Core Systems》聚焦于数字集成电路与嵌入式核心系统的可测试性设计原则，为复杂电子系统在制造、调试及生命周期维护中提供系统化的测试策略。该书深入剖析了现代IC设计中面临的高密度布局、异构结构以及实时响应需求所带来的测试挑战，强调从早期设计阶段就嵌入可测试性特性，降低后期调试成本与系统失效风险。作者结合半导体工艺演进，详细阐释了先进制程下信号延迟、时序不确定性与局部可观测性不足等问题对测试覆盖率的影响，提出适配不同应用场景的测试建模方法，包括功能仿真、物理探针设计及自动化测试脚本生成。书中详细介绍了基于内置自测试（BIST）、边界扫描（JTAG）以及结构化测试模式的实现技术，并通过大量实例展示如何在FPGA、ASIC与嵌入式SoC中集成这些策略，提升系统可靠性。同时，本书系统分析了测试资源优化路径，探讨了测试成本、时间窗口与产品复杂度之间的平衡机制，为工程师提供可操作的设计指南。在嵌入式核心系统领域，该书特别关注多核协同、异构计算单元调度及实时通信接口的测试验证，结合具体硬件架构案例，说明如何通过分层测试框架实现端到端验证。全书涵盖从理论模型到工程实践的完整链条，不仅覆盖传统数字电路，还深入探讨了AI加速单元、安全协议栈等新兴组件的特殊测试要求。通过丰富的图表与实操案例，帮助读者理解如何在设计周期内嵌入高效可测试性方案，构建更健壮、易维护的数字系统，为智能硬件产品的开发提供坚实技术支撑。