本書係統地介紹數字係統測試理論和方法,包括測試生成、故障模型、故障模擬、可測試性設計、內建自測試等內容。本書共分為三部分:第一部分介紹數字係統、數字微係統芯片缺陷的來源、邏輯描述的方法等;第二部分介紹數字係統的可測試性設計理論和方法、內建自測試BIST、測試數據壓縮方法等;第三部分主要討論係統測試的方法。本書概念清晰、層次分明、定義和證明準確、算法推導和闡述簡練。每章附有大量練習題可幫助讀者消化吸收所學的概念。
本書可供數字係統設計相關技術人員參考,也可作為高等院校相關專業高年級本科生或研究生的教材。
發表於2024-12-18
數字係統測試與可測試設計 2024 pdf epub mobi 電子書 下載
圖書標籤: 測試 數字 可測性設計 IC
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