测试系统技术

出版者:西安电子科技大学出版社

作者:郭军

页数:172

出版时间:2006-10

价格:14.00元

装帧:简裝本

isbn号码:9787560617312

测试系统技术是在微电子与计算机技术相结合的基础上产生的一门新型学科。本书全面系统地论述了以计算机为核心的测试系统的基本构成与理论基础。

书中主要内容包括构成测试系统基本硬件模块的选用原则以及组成测试系统通用硬件平台的集成设计方法，在通用软件开发平台下相关的应用程序、驱动程序、软件模块的设计方法，测试系统的抗干扰原理、数据处理以及维护方法。

本书重点介绍了智能测试系统及虚拟仪器的设计原则、组成方式，并结合实例给出了系统的软、硬件搭建过程，内容反映了近年来测试领域出现的新技术、新方法和新成果。

本书适合测控技术及仪器类、机电类等相关专业使用，也可供有关领域研究人员参考。