Fourier Transform Infrared Spectrometry

Fourier Transform Infrared Spectrometry pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:John Wiley & Sons Inc
作者:Griffiths, Peter R./ Haseth, James A. De
出品人:
页数:560
译者:
出版时间:2007-4
价格:1540.40元
装帧:HRD
isbn号码:9780471194040
丛书系列:
图书标签:
  • 傅里叶变换红外光谱
  • 红外光谱
  • 光谱学
  • 分析化学
  • 物理化学
  • 材料分析
  • 化学分析
  • 分子振动
  • 光谱技术
  • 仪器分析
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具体描述

A bestselling classic reference, now expanded and updated to cover the latest instrumentation, methods, and applications

The Second Edition of Fourier Transform Infrared Spectrometry brings this core reference up to date on the uses of FT-IR spectrometers today. The book starts with an in-depth description of the theory and current instrumentation of FT-IR spectrometry, with full chapters devoted to signal-to-noise ratio and photometric accuracy. Many diverse types of sampling techniques and data processing routines, most of which can be performed on even the less expensive instruments, are then described. Extensively updated, the Second Edition:

* Discusses improvements in optical components

* Features a full chapter on FT Raman Spectrometry

* Contains new chapters that focus on different ways of measuring spectra by FT-IR spectrometry, including fourteen chapters on such techniques as microspectroscopy, internal and external reflection, and emission and photoacoustic spectrometry

* Includes a new chapter introducing the theory of vibrational spectrometry

* Organizes material according to sampling techniques

Designed to help practitioners using FT-IR capitalize on the plethora of techniques for modern FT-IR spectrometry and plan their experimental procedures correctly, this is a practical, hands-on reference for chemists and analysts. It's also a great resource for students who need to understand the theory, instrumentation, and applications of FT-IR.

固体材料的微观结构与表面化学分析 图书简介 本书聚焦于固体材料的微观结构、化学组成及其表面性质的深入研究与表征技术。它旨在为材料科学家、化学工程师以及相关领域的研究人员提供一个全面、系统的理论框架与实践指导,用以理解和分析复杂固体体系的行为机制。 第一章:固体材料的结构基础与表征挑战 本章首先系统阐述了固体材料的晶体结构与非晶结构的基本原理,包括晶格点阵、晶胞概念、晶体缺陷(如点缺陷、线缺陷和界面)对材料宏观性能的影响。随后,深入探讨了理解固体材料特性的关键挑战,特别是当材料尺寸缩小至纳米尺度时,表面原子与体相原子的比例变化如何导致新的物理和化学性质出现。我们讨论了传统分析方法在处理多相混合物、梯度材料以及极薄涂层时的局限性,从而引出对高灵敏度、高空间分辨分析技术的需求。重点内容包括固体材料的界面能、表面重构现象及其对催化、吸附和摩擦性能的影响建模。 第二章:X射线衍射技术(XRD)在晶体结构解析中的应用 本章详细介绍了X射线衍射(XRD)的基本物理原理,包括布拉格定律的推导、衍射峰的形成机理以及不同几何配置(如掠射角、平行光束)的适用场景。核心内容在于如何利用XRD数据解析材料的晶相结构、计算晶粒尺寸(基于谢乐公式的修正)、确定晶格常数和识别微观应力与形变。我们特别辟出章节探讨了粉末衍射与单晶衍射的区别,并着重讲解了同步辐射光源在复杂材料(如高熵合金、金属有机骨架材料MOFs)的结构精修中的前沿应用,包括原位(in-situ)反应过程的实时监测。 第三章:扫描电子显微学(SEM)与透射电子显微学(TEM) 电子显微镜是研究材料微纳形貌和晶体结构最强大的工具之一。本章系统地介绍了扫描电子显微镜(SEM)的工作原理,包括电子束与样品相互作用的几种主要信号(背散射电子、二次电子、X射线)及其成像对比度的物理机制。重点讲解了能量色散X射线谱学(EDS)在元素定性和半定量分析中的应用,以及背散射电子衍射(EBSD)如何提供晶粒取向和晶界信息。 随后,本章转向高分辨率的透射电子显微学(TEM)。我们详细阐述了电子束透过样品后产生的衍射图样分析,包括明场像、暗场像的构建,以及高分辨透射电镜(HRTEM)在原子尺度成像中的关键技术——相衬(Phase Contrast)的形成和解释。对于软物质和生物材料,低剂量成像技术和像差校正技术在保持样品完整性方面的进展也被纳入讨论。 第四章:拉曼光谱与弹性散射:分子振动与晶格振动 拉曼光谱作为一种非破坏性的光学分析技术,在本章中被深入剖析。本章首先解释了拉曼散射的量子力学基础,并区分了其与荧光散射的区别。重点讨论了晶格振动模式(声子)在无机材料中的表征,例如半导体材料的缺陷激活模式和应力对峰位移动的影响。对于有机物和聚合物,我们详细分析了特征官能团的振动指纹区,以及如何利用偏振拉曼光谱获取分子取向信息。此外,还涵盖了表面增强拉曼散射(SERS)的机理及其在痕量分析中的巨大潜力。 第五章:X射线光电子能谱(XPS)与俄歇电子能谱(AES) 本章集中讨论利用高能光子或电子激发原子内部电子,从而分析材料表面元素组成和化学态的技术。X射线光电子能谱(XPS)被详细介绍,包括光电子的产生、电子的能量分析,以及通过峰位移动识别元素氧化态和化学环境的原理(化学位移)。我们提供了详尽的谱峰拟合方法,用于区分不同配位环境下的金属离子或非金属原子。 俄歇电子能谱(AES)则被用作高空间分辨的表面分析技术。本章阐述了俄歇跃迁过程,并讨论了AES在半导体界面分析和薄膜沉积过程监测中的优势。此外,如何结合离子溅射技术进行深度剖析(Depth Profiling)成为本章的关键实践环节。 第六章:热分析技术:DSC, TGA 与 TMA 理解材料在温度变化过程中的稳定性、相变行为和热力学响应,是材料工程中的核心环节。本章详细介绍了差示扫描量热法(DSC),用于测量吸热或放热转变(如熔点、玻璃化转变、结晶度),并探讨了其在聚合反应动力学研究中的应用。 热重分析(TGA)部分,重点讲解了质量随温度变化的记录及其在确定材料分解温度、挥发物含量和氧化稳定性方面的作用。我们还讨论了复合材料的热解行为分析。热机械分析(TMA)则用于测量材料在特定载荷下的热膨胀系数和软化点,是理解材料装配性能的关键。本章还整合了这些技术在聚合物老化研究和无机粉体制备中的协同应用案例。 第七章:原子力显微镜(AFM)及其力学性能探针 原子力显微镜(AFM)是研究固体表面形貌、粗糙度和局部力学性质的强大工具。本章首先解释了AFM的基本成像模式(接触模式、轻敲模式和非接触模式)的物理差异及其适用范围。核心内容包括如何通过扫描探针获取高分辨率的三维表面形貌数据,并进行定量粗糙度参数分析。 本章的重点拓展部分在于力学性能测量。我们深入探讨了基于原子力显微镜的压电力显微镜(LFM)和纳米压痕技术,用以测量局部杨氏模量、硬度和粘附力。这对于理解涂层、复合材料界面和生物材料的力学响应至关重要。此外,还介绍了动态力学分析模式(Damping measurements)在聚合物弛豫行为分析中的应用。 第八章:光谱分析的信号处理与数据校准 本章旨在提供将原始谱学数据转化为可靠物理化学信息的实践指导。我们涵盖了光谱数据的基本预处理步骤,包括基线校正、背景扣除、噪声抑制技术(如Savitzky-Golay平滑)和峰位校正。 对于复杂的谱图,本章详细讲解了多元曲线解析方法,如主成分分析(PCA)和非负矩阵分解(NMF),这些方法在处理多组分混合物或时间序列数据时,用于解耦不同物理过程的贡献。此外,还提供了不同分析技术之间数据交叉验证和校准的标准流程,确保实验结果的准确性和可比性。 结论:多技术联用与材料系统集成分析 最后一章总结了单一技术分析的局限性,并强调了多技术联用(如XPS-TEM-XRD联用)在解决复杂材料科学问题中的必要性。我们提供了多个案例研究,展示如何通过集成不同尺度的信息,从原子配位到微米形貌,最终构建起完整的材料性能与结构关系模型。本书为读者提供了全面的理论基础和实用的操作指南,以应对现代材料研究中日益增长的表征复杂性需求。

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目录信息

读后感

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用户评价

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这本书的装帧设计确实很吸引人,封面那种深沉的蓝色搭配着简洁的银色字体,透露出一种专业而又神秘的气息。我尤其喜欢它在细节处理上的用心,比如内页纸张的质感,拿在手里沉甸甸的,让人感觉作者在内容编排上也必定是下了大功夫的。虽然我目前还没有完全沉浸到核心的技术细节中去,但光是前言部分,那种对光谱分析历史的回顾和对未来展望的铺陈,就已经让我对接下来的阅读充满了期待。作者似乎有一种魔力,能把看似枯燥的科学原理,用一种充满人文关怀的笔触娓娓道来。我感觉这不仅仅是一本教科书,更像是一部关于光与物质相互作用的史诗序章,让人忍不住想一探究竟,看看那些不可见的振动世界究竟藏着怎样的奥秘。这本书的排版也很出色,图文比例拿捏得恰到好处,避免了信息过载带来的阅读疲劳,整体阅读体验非常流畅舒适,为深入学习打下了良好的基础。

评分☆☆☆☆☆

从整体的阅读感受来说,这本书给我的印象是:严谨、全面,但又带着一丝不易察觉的“匠人精神”。我留意到,作者在引用前人成果时,对细节的标注非常严谨,几乎找不到任何可以被诟病的疏漏之处。更重要的是,它并非一本孤立的著作,在很多关键的技术节点上,作者都巧妙地提示了与其他光谱学或分析化学方法的关联性,使得读者能够将所学知识置于更宏大的分析科学背景下去理解。我感觉这本书的价值在于其构建了一个完整的知识框架,而不是零散的知识点。它教会我的不仅仅是操作某个仪器的方法,更重要的是培养了一种系统性的、批判性的科学思维,这种思维方式的培养,远比记住几个公式重要得多,它为未来的独立研究奠定了坚实的心智基础。

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说实话,我刚开始翻阅这本书时,心里是抱着一丝忐忑的,毕竟这个领域听起来就充满了高深的数学和复杂的物理模型。然而,令我惊喜的是,作者在引入基础概念时,采用了极其生活化的类比和详尽的示意图。比如,对分子振动模式的解释,不再是干巴巴的公式堆砌,而是像在描述一个精密的机械装置在特定频率下的运动状态,这极大地降低了我的理解门槛。特别是那些关于仪器操作原理的章节,插图的清晰度和立体感简直是教科书级别的典范,每一个光路反射、每一个样品室的构造都被描绘得淋漓尽致,让人仿佛能亲手触摸到那些精密的光学元件。我感觉作者不仅是这方面的专家,更是一位极其出色的“翻译家”,成功地架起了理论与实践之间的桥梁,让原本遥不可及的实验操作变得清晰可见,这一点对于初学者来说,简直是无价之宝。

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这本书的内容组织结构,简直是逻辑严谨到令人发指的地步,它不像某些参考书那样东拉西扯,而是像一条精心铺设的轨道,每一步的推进都为下一步的深入做足了铺垫。我特别欣赏作者在每一章末尾设置的“挑战性思考题”部分,这些问题往往不是简单的知识点复述,而是需要综合运用前面章节知识进行推演和分析的开放性难题。这迫使读者不能只是被动地接受信息,而是必须主动地去构建自己的知识体系。而且,作者在探讨不同应用领域时,引用了非常前沿和实际的案例研究,这让抽象的理论瞬间落地生根,展现了其强大的实用价值。我甚至能感受到作者在文字背后那种“希望读者真正理解,而不是死记硬背”的良苦用心,这种教学态度在学术著作中实属难得。

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这本书的深度和广度令人叹为观止,它显然不是一本只停留在基础原理层面的入门读物。当我深入到光谱解析和数据处理的部分时,我明显感受到了作者在专业深度上的强大功力。他对各种干扰因素的分析细致入微,从样品制备的微小差异到环境温度对信号漂移的影响,无一不被纳入考量,并给出了详尽的校正方法和经验法则。这套理论体系的完整性,体现了作者多年研究的沉淀。相比市面上一些只注重“是什么”的书籍,这本书更侧重于“为什么会这样”和“如何解决问题”,这种解决问题的导向性,让它更像是一位资深导师的案头指南,充满了实战智慧。即便是有经验的研究人员,也能从中挖掘出新的视角和优化实验流程的契机。

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