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VLSI Test Principles and Architectures
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This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

· Most up-to-date coverage of design for testability. · Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. · Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. · Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. · Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.

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出版者:Elsevier Science Ltd
作者:Wang, Laung-terng (EDT)/ Wu, Cheng-Wen (EDT)/ Wen, Xiaoqing (EDT)
出品人:
頁數:808
譯者:
出版時間:2006-7
價格:620.00元
裝幀:HRD
isbn號碼:9780123705976
叢書系列:

圖書標籤: VLSI  可測性設計  計算機體係結構  計算機  英文  微電子  體係結構  EE   

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