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出版者:World Scientific Pub Co Inc

作者:D. J. Dumin

出品人:

頁數:270

译者:

出版時間:

價格:741.00 元

裝幀:HRD

isbn號碼:9789810248420

叢書系列:

圖書標籤:

材料學
Oxide
Reliability
Semiconductors
Materials Science
Microelectronics
Failure Analysis
Corrosion
Degradation
Thin Films
Device Physics
Electrical Engineering

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具體描述

This book presents in summary the state of our knowledge of oxide reliability. The articles have been written by experts who are among the most knowledgeable in the field. The book will be an invaluable aid to reliability engineers and manufacturing engineers, helping them to produce and characterize reliable oxides. It can be used as an introduction for new engineers interested in oxide reliability, besides being a reference for engineers already engaged in the field.

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