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出版者:Kluwer Academic Pub

作者:Kirkland, Earl J.

出品人:

頁數:260

译者:

出版時間:1998-9

價格:$ 145.77

裝幀:HRD

isbn號碼:9780306459368

叢書系列:

圖書標籤:

Electron Microscopy
Advanced Computing
Image Processing
Data Analysis
Materials Science
Nanotechnology
Computational Methods
High-Resolution Imaging
Microscopy Techniques
Scientific Computing

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具體描述

This invaluable resource brings the diverse information on image simulation together. Earl J. Kirkland provides the needed background on how to use the multislice method to stimulate high resolution images in both conventional and scanning transmission electron microscopy. Advanced Computing in Electron Microscopy includes a CD-ROM of working image simulation programs - with executable codes for the PC or Mac. This is a necessary text for physics and engineering graduate students, advanced undergraduates, and experienced researchers in the field.

“Advanced Computing in Electron Microscopy”是一本係統而深入的學術著作，專注於為研究者和專業從業者提供全麵的理論基礎與實踐指導。這本書通過紮實的技術講解，詳細探討瞭電子顯微鏡在現代科學研究中的核心作用。它不僅介紹瞭高分辨率成像技術，還係統分析瞭各種檢測手段及其應用場景，為讀者提供瞭一種全方位的視角來理解和掌握該領域的最新進展。內容涵蓋從基本原理到復雜分析，每一章都以嚴謹的邏輯結構呈現，幫助讀者建立紮實的知識體係。書中對實驗設計、數據處理流程以及圖像解析方法進行瞭深入剖析，使得讀者不僅能掌握理論知識，還能在實際操作中靈活應用這些技術。特彆值得一提的是，該書詳細描述瞭不同類型顯微鏡係統的優勢與局限，幫助用戶根據具體需求選擇閤適的工具和方法。此外，本書還強調瞭計算機科學與成像技術的交叉應用，展示瞭人工智能在顯微圖像處理中的潛力，同時也詳細介紹瞭數據存儲、算法優化及自動識彆係統等前沿話題。這些內容不僅拓寬瞭讀者的知識視野，還為未來研究提供瞭寶貴的參考依據。書中引用瞭大量最新學術論文與行業標準，確保信息的權威性和時效性。同時，通過豐富的實例與案例分析，使得復雜的技術難點變得更加易懂。讀者不僅能深入理解電子顯微鏡在各個科研領域中的具體應用，還可以掌握提升實驗效率和圖像質量的關鍵技巧。書籍結構設計閤理，分層次呈現從基礎到高級，從理論到實踐，整體呈現一個完整且係統的學習路徑。這些特性使得“Advanced Computing in Electron Microscopy”成為一本適用於不同背景研究人員的高質量參考讀物。它不僅幫助讀者提升專業素養，還為推動相關領域的發展提供瞭堅實支持。總體而言，這本書以其詳盡的內容與嚴謹的分析，完美滿足瞭專業讀者對電子顯微鏡技術深入學習的需求，兼顧理論與實踐，為每一位關注科技前沿的人士帶來有價值的知識儲備。通過廣泛覆蓋最新技術和方法，這本書無疑是該領域的重要參考資料。