Digital Systems Testing & Testable Design

出版者:Wiley-IEEE Press

作者:Miron Abramovici

页数:672

出版时间:1994-09-13

价格:USD 144.50

装帧:Hardcover

isbn号码:9780780310629

具体描述

This updated printing of the leading text and reference in digital systems testing and testable design provides comprehensive, state-of-the-art coverage of the field. Included are extensive discussions of test generation, fault modeling for classic and new technologies, simulation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis. Complete with numerous problems, this book is a must-have for test engineers, ASIC and system designers, and CAD developers, and advanced engineering students will find this book an invaluable tool to keep current with recent changes in the field.

用户评价

读完《Digital Systems Testing & Testable Design》之后，我对数字系统测试的理解可以说是从“摸着石头过河”变成了“运筹帷幄”。在接触这本书之前，我的测试工作主要依赖于经验和一些零散的工具，很多时候会陷入“为什么这里会出问题”的迷茫之中。而这本书则提供了一个非常扎实的理论基础和一套完整的解决方案。书中关于故障模型的详细介绍，比如桥接故障、断开故障、延迟故障等，让我清晰地认识到可能存在的各类缺陷，以及它们对电路行为的影响。这对于理解测试的根本目标——检测这些故障——至关重要。我特别赞赏书中对不同测试方法的深入对比和分析，从功能测试到结构测试，从静态测试到动态测试，书中都进行了详尽的阐述，并指出了它们各自的优缺点和适用场景。这帮助我能够根据实际需求选择最合适的测试策略。书中关于故障模拟（Fault Simulation）的讲解也让我受益匪浅，了解了如何高效地评估测试向量的有效性，以及如何通过迭代优化来提高测试覆盖率。此外，书中关于可测试性度量（Testability Metrics）的探讨，让我开始思考如何量化电路的可测试性，并将其作为设计优化的一部分。这本书的内容非常丰富，涵盖了从理论到实践的方方面面，绝对是数字系统测试领域不可多得的经典之作，让我受益终生。

这本书简直是数字系统测试领域的圣经！我之前从事的嵌入式系统开发工作，经常会遇到一些难以捉摸的bug，尤其是在集成测试阶段，常常是耗费大量时间和精力却收效甚微。当我翻开《Digital Systems Testing & Testable Design》时，就仿佛找到了黑暗中的一盏明灯。它不仅系统地阐述了数字系统测试的基本原理、方法和技术，更深入地剖析了如何从设计之初就考虑可测试性。书中关于可控性、可观测性的论述，让我茅塞顿开，原来很多测试难题并非无法解决，而是因为设计时缺乏对这些关键因素的考虑。我尤其欣赏书中关于DFT（Design for Testability）的详细讲解，诸如扫描链、BIST（Built-in Self-Test）等技术的原理和实现方式，书中都给出了非常清晰的图示和理论推导。这让我深刻理解了为何一个良好的DFT设计能够极大地简化测试过程，降低测试成本，并提高测试覆盖率。书中对ATPG（Automatic Test Pattern Generation）算法的介绍也让我大开眼界，了解到如何利用各种算法自动生成测试向量，有效地检测出芯片中的各种故障。这对于大规模集成电路的测试尤为重要，人工生成测试向量几乎是不可能的任务。总而言之，这本书为我构建了一个全面、系统的数字系统测试知识体系，让我能够更有针对性地解决实际工作中的问题，并为未来的设计工作提供了宝贵的指导。它不仅仅是一本技术手册，更是一本启迪思维的书籍。

《Digital Systems Testing & Testable Design》这本书，对我这个刚踏入数字集成电路设计领域的新人来说，简直是一本“救命稻草”。之前在学校学习的知识，更多地侧重于电路的功能实现，对于如何验证和测试，了解得非常有限。当我翻开这本书，立刻被它系统而详实的讲解所吸引。书中对各种故障模型的介绍，让我认识到电路可能出现的各种“病症”，而针对这些“病症”，书中又提供了各种“疗法”，也就是各种测试技术。我特别喜欢书中对ATPG（Automatic Test Pattern Generation）算法的讲解，它让我理解了如何通过程序自动生成测试向量，来检测电路中的故障，这对于动辄数百万甚至上亿个晶体管的现代芯片来说，是必不可少的。书中还深入浅出地介绍了BIST（Built-in Self-Test）技术，让我了解了如何将测试功能集成到芯片内部，实现芯片的自测试，这不仅可以降低测试成本，还能提高测试效率。书中关于可测试性度量（Testability Metrics）的章节，也让我开始从设计的角度去思考如何让电路更容易被测试，这是一种非常重要的思维转变。这本书的语言虽然专业，但配合丰富的图解和实例，使得复杂的概念变得易于理解。它为我打开了数字系统测试的大门，让我对未来的工作充满信心。

《Digital Systems Testing & Testable Design》这本书，可以说是数字系统测试领域的“百科全书”式著作。在我多年的测试工程师生涯中，我接触过不少关于测试的书籍，但很少有能像这本书一样，将测试的理论、方法、技术以及设计理念如此全面而深入地融为一体。书中对各种测试方法，如功能测试、结构测试、故障模拟、故障诊断等，都进行了详细的阐述，并对其优缺点、适用场景进行了深入的分析。我尤其赞赏书中关于可测试性设计（DFT）的理念，它强调测试不应是事后诸葛亮，而应贯穿于设计过程的始终。书中列举了大量的设计技巧，例如扫描链（Scan Chains）、多路复用器（Multiplexers）和内建自测试（BIST）等，这些技术能够极大地简化测试过程，提高测试覆盖率，并降低测试成本。书中对ATPG（Automatic Test Pattern Generation）算法的深入剖析，让我对如何有效地生成测试向量有了更深刻的理解。它不仅介绍了各种算法的原理，还探讨了它们在实际应用中的权衡和选择。总而言之，这本书为我提供了一个坚实的理论基础和一套完整的实践指导，让我能够更从容地应对各种复杂的测试挑战，并不断提升自己的专业技能。

《Digital Systems Testing & Testable Design》这本书，简直是为我量身打造的“测试宝典”。在我刚开始接触数字逻辑设计时，总是对如何验证和测试感到困惑，很多时候仅仅是停留在理论层面，而这本书则将理论与实践完美地结合在了一起。书中对各种测试方法的详细介绍，让我对功能测试、结构测试、故障模拟、故障诊断等有了清晰的认识，并了解了它们各自的优劣和适用场景。我特别喜欢书中关于ATPG（Automatic Test Pattern Generation）算法的讲解，它不仅介绍了算法的原理，还深入分析了各种算法的复杂度和效率，让我能够根据实际需求选择最合适的算法。书中对BIST（Built-in Self-Test）技术的阐述也让我受益匪浅，了解了如何将测试功能集成到芯片内部，实现芯片的自主测试，这对于提高测试效率和降低测试成本具有重要意义。此外，书中对可测试性设计（DFT）理念的强调，让我开始从设计的角度去思考如何让电路更容易被测试，这是一种非常宝贵的思维方式。这本书的内容非常丰富，涵盖了数字系统测试的方方面面，绝对是不可多得的经典之作，它为我未来的职业发展奠定了坚实的基础。

在我阅读《Digital Systems Testing & Testable Design》之前，我总觉得测试是一个相对被动的过程，只是在设计完成后才开始关注。这本书彻底改变了我的这种看法，它强调了“测试性设计”（Design for Testability, DFT）的重要性，并将其上升到了与功能设计同等重要的地位。书中列举了许多在设计初期就可以采取的措施，例如添加边界扫描（Boundary Scan）链，这使得在生产和调试过程中，能够方便地访问和控制芯片的输入输出引脚，极大地简化了连接性和测试的难度。我最欣赏书中对扫描设计（Scan Design）的详尽阐述，包括全扫描（Full Scan）和部分扫描（Partial Scan）的实现方法，以及扫描链的构建和测试模式的生成。这使得原本难以访问的芯片内部节点，变得可以被轻松地控制和观测，从而极大地提高了测试的效率和覆盖率。书中还介绍了许多先进的DFT技术，例如内嵌式逻辑分析仪（Embedded Logic Analyzers, ELA）和内嵌式自测试（Built-in Self-Test, BIST）等，这些技术能够进一步提升芯片的可测试性和诊断能力。这本书不仅仅是介绍测试方法，更是引导读者思考如何从源头上解决测试难题，从而构建出更高效、更可靠的数字系统。

坦白说，《Digital Systems Testing & Testable Design》这本书的内容深度和广度都令人惊叹。我本以为这本书会像很多技术书籍一样，只停留在概念的介绍和方法的罗列，但它却深入到了各种测试技术背后的数学模型和算法原理。例如，书中对ATPGS（Automatic Test Pattern Generation Systems）的讲解，不仅描述了如何生成测试向量，还探讨了各种算法的复杂度、收敛性以及在实际应用中的权衡。这让我深刻理解了为何某些测试算法在面对大规模电路时会显得力不从心。书中关于测试压缩（Test Compression）技术的介绍也让我耳目一新，了解了如何通过各种编码和解码技术来减小测试数据的体积，从而降低测试时间和存储成本。这对于现代SoC（System on Chip）设计而言，是一个非常现实且关键的问题。书中还探讨了非扫描设计（Non-Scan Designs）的测试挑战，以及如何利用各种技术来克服这些挑战。这表明该书的覆盖面非常广，能够满足不同设计风格和复杂度的需求。我特别喜欢书中对实时测试（Real-time Testing）和嵌入式测试（Embedded Testing）的探讨，这些技术在高性能和低功耗设备的应用中越来越重要。这本书绝对是数字系统测试领域的一部百科全书，它提供了最前沿的知识和最深刻的见解。

《Digital Systems Testing & Testable Design》这本书，就像是一位经验丰富的导师，循循善诱地引导我走进了数字系统测试的复杂世界。我之前在测试工作中，常常会因为遇到一些匪夷所思的现象而感到沮丧，这本书让我明白了这些现象背后的根源往往与电路的内在结构和故障模型息息相关。书中对各种故障模型（Fault Models）的细致描述，从最基本的 Stuck-at Faults 到更复杂的 Transition Faults 和 Path Delay Faults，让我清晰地认识到不同故障模型对测试策略的影响。这使得我在设计测试向量时，能够更加有针对性，而不是盲目地进行尝试。我尤其赞赏书中关于测试覆盖率（Test Coverage）的讨论，它不仅定义了各种覆盖率指标（如Gate-level Coverage, Transition Coverage, Path Coverage），还深入分析了如何通过优化设计和测试向量来提高这些覆盖率。这对于衡量测试的有效性至关重要。书中对BIST（Built-in Self-Test）技术的讲解也让我印象深刻，了解了如何将测试逻辑集成到芯片内部，实现芯片的自主测试，这在产品上市后的维护和现场诊断中具有巨大的价值。这本书的严谨性和系统性，让我能够真正地理解测试的本质，而不是停留在表面。

《Digital Systems Testing & Testable Design》这本书真的颠覆了我对测试的认知。我之前一直认为测试就是“找bug”的过程，而这本书让我明白，测试更是一门艺术，一种科学，它需要深入到设计的每一个环节。书中最让我印象深刻的是对“可测试性设计”（Design for Testability, DFT）的强调。它不仅仅是测试人员的事情，更是设计人员需要承担的责任。书中列举了大量的设计技巧，比如利用测试端口、添加测试逻辑、以及采用分层测试策略等，这些都能在设计阶段就为后续的测试铺平道路。我尤其喜欢书中关于测试结构（Test Structures）的章节，对扫描链（Scan Chains）、多路复用器（Multiplexers）以及内建自测试（BIST）等技术的讲解非常透彻，配以精美的图例，让人一目了然。通过学习这些技术，我能够更好地理解如何在硬件层面实现高效的测试，并减少对外部测试设备的高度依赖。书中关于故障诊断（Fault Diagnosis）的内容也让我看到了测试的另一个重要维度，它不仅要检测出故障，还要能够定位故障的根源。这对于快速修复和提高产品质量至关重要。这本书为我提供了一个全新的视角来看待数字系统测试，让我能够将测试思维融入到整个设计流程中，从而构建出更可靠、更易于测试的数字产品。

我必须说，《Digital Systems Testing & Testable Design》这本书，绝对是我在数字设计领域阅读过的最具价值的书籍之一。我之前一直认为，测试工作就是将设计好的电路连接到测试设备上，然后运行测试用例，看是否能通过。然而，这本书让我深刻认识到，测试的内涵远不止于此。书中对故障模型（Fault Models）的细致分类和分析，让我明白电路可能遇到的各种“故障”，以及这些故障是如何产生的。这为我理解测试的目的打下了坚实的基础。我特别欣赏书中对可测试性设计（Design for Testability, DFT）的强调，它不仅仅是提供了一堆“技巧”，更是传递了一种“设计理念”。书中介绍了诸如扫描链（Scan Chain）、边界扫描（Boundary Scan）和BIST（Built-in Self-Test）等技术，这些技术能够从根本上解决测试难题，提高测试效率。我曾尝试过在实际项目中应用书中介绍的一些DFT方法，效果显著，极大地缩短了测试时间和调试周期。此外，书中对测试压缩（Test Compression）技术的讲解，也让我对如何应对海量测试数据有了新的认识。这本书的深度和实用性，使其成为任何想要深入了解数字系统测试的人的必备读物。