第一篇 X射綫光譜分析基礎
第一章 X射綫物理學基礎
§1.1 X射綫光譜分析的發展簡史
§1.2 X射綫
§1.3 X射綫的産生
§1.4 X射綫譜
§1.5 X射綫與物質的相互作用
§1.6 X射綫熒光強度的理論計算
參考文獻
第二章 X射綫光譜分析概述
§2.1 術語
§2.2 X射綫光譜分析的基本原理與特點
§2.3 X射綫光譜儀的分類
§2.4 X射綫光譜分析的現狀與發展
參考文獻
第三章 特徵X射綫的激發
§3.1 概述
§3.2 X射綫管激發
§3.3 放射源激發
§3.4 加速粒子激發
§3.5 不同激發方式的性能比較
參考文獻
第二篇 X射綫熒光光譜分析
第四章 波長色散X射綫熒光光譜分析
§4.1 概述
§4.2 X射綫的波長色散(晶體分光)
§4.3 探測
§4.4 測量
§4.5 譜儀性能測試
§4.6 波長色散X射綫熒光光譜儀現狀及其應用
參考文獻
第五章 能量色散X射綫熒光光譜分析
§5.1 概述
§5.2 譜儀基本結構
§5.3 濾波選擇
§5.4 二次激發
§5.5 探測器
§5.6 能譜采集
§5.7 WDXRF譜儀與EDXRF譜儀的區彆
§5.8 譜儀性能測試
§5.9 能量色散X射綫熒光光譜儀的現狀及其應用
參考文獻
第六章 樣品製備
§6.1 概述
§6.2 固體塊樣的製備
§6.3 粉末樣的製備
§6.4 熔融樣的製備
§6.5 溶液樣的製備
§6.6 特殊樣品的製備
參考文獻
第七章 定性分析和半定量分析
§7.1 概述
§7.2 定性分析
§7.3 半定量分析
參考文獻
第八章 定量分析
§8.1 概述
§8.2 外標法
§8.3 內標法
§8.4 增量法
§8.5 數學校正法
§8.6 波長色散譜儀定量分析條件的設定
§8.7 能量色散譜儀定量分析條件的設定
§8.8 X射綫熒光光譜定量分析中的不確定度
參考文獻
第三篇 其它X射綫光譜分析
第九章 全反射X射綫熒光光譜分析
§9.1 概述
§9.2 TXRF基本原理和裝置
§9.3 全反射X射綫熒光光譜儀
§9.4 全反射X射綫熒光分析的基本特點
§9.5 全反射X射綫熒光光譜分析的應用與展望
參考文獻
第十章 電子探針顯微分析
§10.1 概述
§10.2 儀器構造與工作原理
§10.3 電子探針顯微分析儀的分析方法及應用
§10.4 電子探針顯微分析儀性能測試
參考文獻
第十一章 質子激發X射綫光譜分析
§11.1 概述
§11.2 質子激發X射綫光譜分析裝置
§11.3 質子靜電加速器
§11.4 PIXE真空分析靶室
§11.5 PIXE非真空分析裝置
§11.6 PIXE分析樣品製備
參考文獻
附錄
附錄1 K殼層臨界及激發能和K係特徵X射綫能量
附錄2 K殼層I臨界吸收限和K係特徵X射綫波長
附錄3 K係特徵X射綫相對強度和K殼層熒光産額
附錄4 L殼層臨界激發能和L係特徵X射綫能量
附錄5 L殼層臨界吸收限和L係特徵X射綫波長
附錄6 L係特徵X射綫相對強度和殼層平均熒光産額
附錄7 M係特徵X射綫波長
附錄8 M係特徵X射綫能量
· · · · · · (收起)