Advances in Imaging and Electron Physics

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出版者:
作者:Harmuth, Henning/ Meffert, Beate/ Hawkes, Peter W. (EDT)
出品人:
页数:336
译者:
出版时间:2008-11
价格:$ 261.03
装帧:
isbn号码:9780123742216
丛书系列:
图书标签:
  • Imaging
  • Electron Physics
  • Physics
  • Materials Science
  • Nanotechnology
  • Microscopy
  • Optics
  • Spectroscopy
  • Condensed Matter Physics
  • Biophysics
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具体描述

In this volume, the authors extend the calculus of finite differences to Dirac's equation. They obtain solutions for particles with negative mass that are completely equivalent to the solutions with positive mass. In addition, they obtain solutions for nuclear distances of the order of 10-13m and less rather than for the usual atomic distances. They report a number of other deviations from the differential theory, for instance they found a slight deviation in the eigenvalues of an electron in a Coulomb field, similar to the Lamb shift. In two sections, some surprising results are shown for the concept of space caused by the replacement of dx by delta x.

《Advances in Imaging and Electron Physics》是一部旨在系统性总结和展望当前领域内科学研究动态的重要书籍。它通过深入探讨多种先进技术与理论框架,为读者提供了一个全面了解现代成像与电子物理交叉领域的宝贵资源。这本书着重关注当前前沿课题,详细分析了图像处理算法、新型探测器材料、电子束控制技术以及在微观尺度下的应用。它不仅呈现了最新实验数据和技术进展,还通过严谨的逻辑结构帮助读者建立对相关科学原理的深刻理解。 书中内容广泛涵盖了成像系统的演变,从传统光学成像到现代电子显微镜及其高分辨能力的突破,逐步分析了各类成像手段在不同科研领域的实际应用。此外,它还深入探讨了电子物理中的许多核心概念,如电子波动、电场调控、量子隧穿效应等,为研究人员提供了重要的理论支撑。这部分内容特别强调了科学创新与工程实践之间的桥梁,帮助读者掌握最新的发展方向。 书中还详细介绍了各种先进成像技术的发展路径,包括透射电子显微镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)以及超高分辨率光学显微技术等。每一章节都经过精心编排,既注重基础知识的讲解,也关注实际操作中的挑战与解决方案。通过大量图表、实验案例和数据分析,读者能够直观地掌握这些复杂现象的背后机制。 书中对研究方法和实验设计的详细描述,使得它成为一本理想的学术参考书,也适用于希望提升自身科学素养、拓展专业知识的读者。这本书不仅仅是一个知识的汇编,更是一场对最新科学进展的深度解析,帮助读者在快速变化的科研环境中保持竞争力。 整体而言,《Advances in Imaging and Electron Physics》以其系统性、逻辑严密和内容丰富,成为研究电子物理与成像技术领域爱好者和专业人士的一本必读典籍。这部书不仅展示了学科前沿的发展脉络,也为未来的科研探索提供了坚实的基础。通过深入理解其内容,读者将能够更好地把握当今科学研究所需的工具与思路,从而推动个人专业能力和创新水平的提升。

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