MOS VLSI分析与设计

MOS VLSI分析与设计 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:电子工业出版社
作者:高保嘉
出品人:
页数:289
译者:
出版时间:2002-12-1
价格:29.00元
装帧:平装(无盘)
isbn号码:9787505382848
丛书系列:
图书标签:
  • MOS电路
  • VLSI
  • 集成电路
  • 模拟电路
  • 数字电路
  • 电路分析
  • 电路设计
  • 半导体
  • 微电子学
  • 电子工程
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具体描述

数字IC设计中的前沿技术与实践:从架构到验证 图书简介: 本书聚焦于现代数字集成电路(IC)设计领域的前沿技术与实用方法论,旨在为工程师和高级学生提供一套系统、深入的实践指南。内容涵盖了从系统级架构定义到芯片物理实现及最终验证的全流程,强调在当前半导体工艺节点(如7nm及以下)下面临的功耗、性能与面积(PPA)优化挑战及应对策略。 第一部分:系统级建模与架构定义 本部分深入探讨了现代SoC(系统级芯片)设计的基础,强调了自顶向下(Top-Down)设计流程的必要性。 1.1 硬件描述语言(HDL)的深入应用与高级特性 Verilog/SystemVerilog: 不仅限于基础语法,重点讲解SystemVerilog在验证、高级抽象建模(如程序化接口/PLI)以及接口定义方面的强大功能。讨论了如何利用结构化抽象(如Interface和Modport)来管理复杂互联的信号组。 硬件/软件协同设计(Co-Design): 阐述如何利用高级语言(如C/C++)通过高抽象度的描述(如SystemC)进行快速系统级建模与性能评估。重点分析C-based模型如何驱动RTL级的设计开发,并确保模型与最终硬件行为的一致性。 断言驱动验证(Assertion-Based Verification, ABV): 详细介绍SVA(SystemVerilog Assertions)在设计中的嵌入式检查作用,如何用SVA来定义时序约束、协议规范和安全属性,并将其作为设计的一部分进行仿真验证。 1.2 总线架构与片上网络(NoC) AMBA协议栈的深度解析: 详尽分析AXI4、AXI4-Lite、AXI4-Stream协议的握手机制、突发传输模式、缓存一致性扩展(ACE/CHI)以及跨时钟域(CDC)接口的设计要求。 网络设计原理: 探讨NoC在多核、异构SoC中的核心作用。分析路由算法(如XY Routing, Wormhole Routing)、仲裁机制(如Round Robin, Token Ring)和流量控制策略,以及如何使用NoC拓扑工具进行延迟与带宽的建模。 内存一致性模型: 针对多核处理器,深入剖析缓存一致性协议(如MESI, MOESI及其在SoC总线中的实现),以及如何设计高效的内存访问调度器以最小化内存延迟。 第二部分:逻辑综合与优化 本部分侧重于如何将抽象的RTL代码转化为满足特定工艺库约束的门级网表,并进行关键的性能优化。 2.1 逻辑综合(Synthesis)的原理与实践 设计约束(SDC)的精细化管理: 详细讲解如何编写精确的时序约束文件(SDC),包括时钟定义、输入/输出延迟、多周期路径约束、伪路径约束等,确保综合工具正确理解设计意图。 逻辑优化技术: 分析综合工具内部的优化算法,如布尔代数简化、逻辑提取、重定时(Retiming)在改善时序裕度中的作用。讨论如何通过属性(Attributes)引导综合过程,例如对关键路径的预算分配。 功耗感知综合(Power-Aware Synthesis): 探讨低功耗设计方法在综合阶段的应用,如门控时钟(Clock Gating)的自动插入与手动控制、电压与频率调节(DVFS)对逻辑单元选择的影响。 2.2 时序收敛与静态时序分析(STA) STA基础理论: 深入讲解建立时间(Setup Time)和保持时间(Hold Time)的计算模型,以及如何处理不同工艺库中的非理想效应(如Latch-up, IR Drop对时序的影响)。 时序违例的诊断与修复: 教授如何解读STA报告,识别关键路径、逻辑层次最深路径、和最大延迟路径。针对性地提出修复策略,如增加缓冲器(Buffering)、逻辑重定时、驱动强度调整或修改RTL代码。 良率与裕度分析: 引入跨工艺角(Corner Analysis)和基于统计的静态时序分析(SSTA)的概念,评估设计在不同PVT条件下的鲁棒性。 第三部分:低功耗设计方法学 在当前移动和边缘计算时代,功耗是设计的核心指标。本部分系统阐述了从RTL到物理实现层面的低功耗技术。 3.1 功耗建模与分析 动态与静态功耗分解: 详细区分瞬态活动功耗(动态)与亚阈值漏电(静态),并介绍功耗分析工具(如PrimeTime PX, PowerPro)如何进行精确的能量估算。 功耗网表生成: 如何在综合阶段嵌入功耗相关的设计元素,如电源开关单元(Power Switches)和隔离单元(Isolation Cells)。 3.2 功耗优化技术 时钟树综合(CTS)与功耗: 讨论如何优化时钟树结构以减少时钟网络本身的动态功耗,并确保时钟分配的均匀性。 电源管理单元(PMU)与DVFS: 设计高效的电源门控(Power Gating)架构,包括如何处理断电域(Power Domain)的唤醒/休眠逻辑,以及动态电压/频率调整的控制流程。 多电压设计(Multi-Voltage Design): 讲解如何安全地在不同电压域之间进行信号传递,并实施必要的电平转换器(Level Shifters)以避免潜在的闩锁(Latch-up)风险。 第四部分:物理实现与签核 本部分覆盖了从逻辑网表到最终GDSII流片的后端流程,重点关注物理实现对PPA的最终锁定作用。 4.1 布局规划与时钟树综合(CTS) 芯片级规划: 讲解如何进行宏单元(Macro)的放置、电源网络(Power Grid)的初步设计,以及I/O端口的规划,这些步骤对后续的时序和功耗至关重要。 时钟树综合的精细控制: 深入探讨CTS目标,如最小化时钟偏差(Skew)和最大化时钟最小化(H-Tree vs. Mesh Network)。分析时钟门控如何集成到CTS中。 4.2 布线与后布线优化 全局与详细布线策略: 讨论如何在高密度设计中有效利用多层金属层,并处理绕线拥塞问题。 寄生参数提取与后布线分析(Post-Layout STA): 阐述RC提取过程,以及如何使用提取的精确寄生参数对设计进行最终的时序、信号完整性(SI)和电源完整性(IR Drop)检查。 良率关注: 探讨设计规则检查(DRC)、金属填充(Metal Fill)和光刻规则(Lithography Rule Checking)对芯片制造良率的影响。 第五部分:设计验证与签核 本部分强调现代IC设计中验证的重要性,以及确保产品质量所需的全面测试策略。 5.1 验证环境的构建与收敛 UVM方法论实践: 详细介绍基于SystemVerilog的通用验证方法学(UVM)框架的构建,包括环境组件(Agent, Sequencer, Driver, Monitor, Scoreboard)的协作流程。 功能覆盖率与代码覆盖率: 讲解如何定义和驱动功能覆盖率模型,以量化测试用例对设计特性的覆盖程度。分析代码覆盖率在发现未被激活代码路径上的作用。 形式验证(Formal Verification): 介绍等价性检查(EC)、属性形式验证(FSM Traversal)在加速验证和保证设计正确性方面的应用,尤其是在处理异步逻辑和锁定单元时。 5.2 交付准备与可靠性分析 Sign-Off流程: 总结从物理设计完成到Tape-out前的关键签核项,包括最终的STA报告、功耗签核报告(静态和动态)、DRC/LVS通过证明。 可靠性验证: 讨论ESD保护、闩锁(Latch-up)分析、电迁移(Electromigration, EM)检查以及热效应对长期可靠性的影响及设计规避措施。 全书结构紧凑,理论联系实际,通过大量的案例分析和工程实践经验,旨在培养读者从宏观架构到微观物理实现的全面设计与验证能力。

作者简介

目录信息

第1章 VLSI工艺技术
第2章 MOS晶体管
第3章 版图设计
第4章 数学电路设计基础
第5章 MOS数学电路
第6章 MOS模拟集成电路
第7章 ASIC设计技术
第8章 IC CAD技术
第9章 可测性设计(DFT)技术
第10章 可靠性设计技术
· · · · · · (收起)

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