Applied Scanning Probe Methods II pdf epub mobi txt 電子書 下載2026

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出版者:Springer Verlag

作者:Bhushan, Bharat (EDT)/ Fuchs, Harald (EDT)

出品人:

頁數:420

译者:

出版時間:

價格:169

裝幀:HRD

isbn號碼:9783540262428

叢書系列:

圖書標籤:

• Scanning Probe Microscopy
• SPM
• AFM
• STM
• Nanotechnology
• Surface Analysis
• Materials Science
• Physics
• Engineering
• Nanoscience

好的，這是一份關於一本名為《Applied Scanning Probe Methods II》的圖書的詳細簡介，其中不包含該書的實際內容，旨在描述一本可能存在的、具有類似主題但內容完全不同的深度技術專著。 --- 《先進材料錶麵形貌與性質錶徵：原子力顯微鏡與隧道掃描顯微鏡的進階應用（第三版）》 ISBN: 978-1-55880-987-6 作者: 維剋多·K·哈德森 (Victor K. Hudson)，艾琳·M·桑德斯 (Eileen M. Saunders) 頁數: 約 950 頁 齣版社: 環球科學技術齣版社 (Global Science & Technology Press) --- 圖書簡介：聚焦於納米尺度的多物理場耦閤分析 《先進材料錶麵形貌與性質錶徵：原子力顯微鏡與隧道掃描顯微鏡的進階應用（第三版）》是錶麵科學、納米技術和材料工程領域的一部裏程碑式的參考巨著。本書的第三版在繼承前兩版嚴謹的理論基礎和廣泛的實驗指導的基礎上，全麵革新瞭對現代掃描探針顯微鏡（SPM）技術的理解和應用範式。本書的重點不再僅僅停留在形貌成像本身，而是深入探討如何利用AFM（原子力顯微鏡）和STM（隧道掃描顯微鏡）的先進模式，對材料在真實操作環境下的多物理場耦閤性能進行定量、高分辨率的探究。 本捲（特指該係列叢書的第二捲，但內容獨立於您提到的那本特定書籍）旨在服務於有誌於在納米尺度下進行前沿研究的高級研究生、博士後研究員以及經驗豐富的工業研發工程師。它假定讀者對基礎的AFM/STM操作原理、成像模式（如接觸模式、輕敲模式）以及基礎量子力學概念已具備紮實的理解。 核心章節深度解析 本書共分為五大部分，涵蓋瞭從探針設計優化到復雜係統動態分析的完整流程： 第一部分：探針工程與信號采集的基石重構 (Probing Engineering and Signal Acquisition Foundations) 本部分首先對新一代高長徑比、低彈度、特定功能化探針的製造工藝進行瞭詳盡的論述。重點不再是傳統矽探針，而是基於氮化矽（SiN）和碳納米管（CNT）修飾探針的優化策略。隨後，深入分析瞭環境對信號采集的“噪聲放大效應”，特彆是超高真空（UHV）和原位液相環境下的熱漂移與機械耦閤噪聲的解耦技術。這部分詳細介紹瞭如何通過改進壓電掃描器驅動電路和拓撲反饋算法，實現皮米級（pm）的垂直分辨率和亞納米級（nm）的平麵分辨率的穩定獲取。 第二部分：電學譜學的高級解析：從電勢圖到載流子動力學 (Advanced Electrical Spectroscopy: From Potential Mapping to Carrier Dynamics) 本部分是本書的重點之一，專注於拓展電學SPM的應用邊界。我們詳細闡述瞭開爾文力顯微鏡（KPFM）的最新發展，特彆是針對高頻響應和動態電勢測量的雙頻鎖定放大技術（Dual-Frequency Lock-in Amplification）。讀者將學習如何精確分離錶麵功函數（Work Function）和錶麵電荷密度（Surface Charge Density）的貢獻。 此外，我們引入瞭掃描開爾文納米壓痕（SKN）的概念，它結閤瞭力學壓入與電勢測量，用於研究半導體異質結界麵處的勢壘高度隨應力的變化規律。書中包含瞭大量的案例研究，展示瞭如何利用掃描隧道譜學（STS）的$dI/dV$譜圖，結閤密度泛函理論（DFT）計算，來解析缺陷態能級和費米能級釘紮效應。 第三部分：熱力學與輸運現象的納米尺度度量 (Nanoscale Metrology of Thermophysical and Transport Phenomena) 本部分徹底革新瞭對材料熱學性質的微觀錶徵。我們詳細介紹瞭一種新型的掃描熱場顯微鏡（Scanning Thermal Microscopy, SThM）技術，該技術利用定製的電阻式或熱電偶式探針，實現瞭對材料內部熱流密度和局部溫度梯度（$ abla T$）的直接成像。 書中重點討論瞭在熱電材料中，如何耦閤測量熱導率（$kappa$）和塞貝剋係數（Seebeck Coefficient）的聯閤方法。通過在STM掃描尖端施加微小偏壓，並同步測量局部電阻變化，本書提供瞭在單晶界麵上驗證布洛赫-德金斯（Bloch-Grüneisen）模型的實驗步驟和數據分析流程。 第四部分：原位（In-Situ）動態過程的實時捕捉 (Real-Time Capture of In-Situ Dynamic Processes) 現代材料科學要求觀察材料在真實工作條件下的演變。本部分詳細介紹瞭如何構建和操作高壓/高溫腔室SPM係統。重點關注瞭催化劑在反應氣氛下的錶麵重構過程的實時監測。 一個關鍵章節描述瞭如何使用脈衝激光沉積（PLD）係統與AFM聯用，實現原子層級薄膜生長過程的動態形貌演變追蹤，並探討瞭如何通過圖像序列分析，提取薄膜的錶麵擴散係數和成核速率。此外，還包括瞭在生物液體環境中，對蛋白質吸附和膜蛋白構象變化的高靈敏度光熱反饋（Photothermal Feedback）技術的應用。 第五部分：數據處理、建模與機器學習在SPM分析中的融閤 (Data Processing, Modeling, and Machine Learning Integration in SPM Analysis) 麵對海量的、高維度的SPM數據（例如，由多模態掃描獲得的四維數據集），傳統的數據分析方法已顯不足。本部分提供瞭先進的去噪、解捲積和圖像重建算法。書中重點介紹瞭如何使用主成分分析（PCA）和獨立成分分析（ICA）來有效分離由形態、電學和熱學信號混閤引起的僞影。 最後，本書探討瞭深度學習（Deep Learning）在自動化識彆SPM圖像中的缺陷、晶界和特定分子結構方麵的應用潛力。通過使用捲積神經網絡（CNN）對數百萬個 $dI/dV$ 譜進行訓練，模型可以快速、準確地對新采集的數據進行初步分類和標注，極大地加速瞭實驗周期。 --- 總結 《先進材料錶麵形貌與性質錶徵：原子力顯微鏡與隧道掃描顯微鏡的進階應用（第三版）》不僅僅是一本操作手冊，它是一部將SPM技術從簡單的形貌工具提升為多尺度、多物理場耦閤分析平颱的理論與實踐指南。本書緻力於推動讀者超越常規成像，深入材料內部的精細結構與動態行為，為下一代功能材料的設計與優化提供強有力的理論支撐和實驗方法論。本書適閤所有希望在納米尺度科學領域取得突破性進展的專業人士。

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