Infared Technology And Applications 31

Infared Technology And Applications 31 pdf epub mobi txt 電子書 下載2026

出版者:Society of Photo Optical
作者:Andersen, Bjorn F.
出品人:
頁數:978
译者:
出版時間:
價格:170
裝幀:Pap
isbn號碼:9780819457684
叢書系列:
圖書標籤:
  • 紅外技術
  • 紅外應用
  • 傳感器
  • 檢測
  • 成像
  • 通信
  • 醫療
  • 工業
  • 無損檢測
  • 熱力學
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具體描述

好的,這是一份關於《先進材料的微觀結構與性能錶徵》的圖書簡介,其內容與《Infared Technology And Applications 31》完全無關,並力求詳實和專業。 --- 圖書簡介:先進材料的微觀結構與性能錶徵 一、 導言:理解物質世界的橋梁 在當代科學與工程領域,材料是構建一切的基礎。從微觀的半導體器件到宏觀的航空航天結構,材料的性能決定瞭最終産品的可靠性、效率和壽命。然而,材料的宏觀性能——強度、導電性、耐腐蝕性等——無不深刻地根植於其內部的微觀結構:原子排列、晶界形態、缺陷分布以及相界麵特徵。 《先進材料的微觀結構與性能錶徵》是一部旨在係統梳理和深入探討如何“看見”和“理解”材料內部世界的權威專著。本書突破瞭傳統材料科學教材中對單一錶徵技術的簡單羅列,而是聚焦於如何構建結構-性能-製備之間的完整邏輯鏈條。我們緻力於為材料科學傢、工程師、研究人員以及高年級本科生和研究生提供一套全麵的方法論,用以精確解析復雜先進材料的精細結構,並建立起堅實的定量聯係。 本書的撰寫基於對過去二十年材料錶徵技術最新進展的深刻洞察,特彆強調瞭多尺度分析和原位(In-situ)/4D錶徵技術在解決前沿科學問題中的關鍵作用。 二、 核心內容模塊劃分 本書內容結構嚴謹,邏輯遞進,共分為六大部分,涵蓋瞭從基礎理論到尖端應用的完整知識體係。 第一部分:微觀結構錶徵的理論基礎與尺度效應 本部分奠定瞭理解後續技術的基礎。它詳細闡述瞭材料結構在不同尺度上的定義(原子級、納米級、微米級、宏觀級)以及它們之間的相互轉化關係。 1. 晶體結構與缺陷理論迴顧: 深入探討點缺陷、綫缺陷(位錯)、麵缺陷(晶界、堆垛層錯)的能量學和動力學特徵,及其對塑性、電學性質的初始影響。 2. 統計學與圖像分析: 強調數據驅動的錶徵方法。介紹圖像處理中的降噪、分割、特徵提取(如晶粒度分布、取嚮分布函數ODF)的統計學嚴謹性,為後續定量分析打下基礎。 3. 尺度效應與多尺度建模: 討論如何將從高分辨率透射電子顯微鏡(HRTEM)獲取的原子信息,通過分子動力學(MD)模擬或晶體塑性有限元(CPFEM)方法,有效地橋接到宏觀工程性能的預測中。 第二部分:電子顯微學:解析納米尺度形貌與晶體學 電子顯微技術是理解材料微觀結構的核心支柱。本書對掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)進行瞭前所未有的深度剖析,側重於現代高通量、高分辨技術的應用。 1. 高分辨率透射電鏡(HRTEM)與像差校正(Aberration Correction): 不僅介紹成像原理,更詳細闡述如何利用像差校正技術清晰分辨原子列、確定晶格常數、分析界麵原子重構,並辨識亞納米尺度的應變場。 2. 電子背散射衍射(EBSD)的深度應用: 重點講解EBSD數據的高級處理技術,包括晶粒取嚮、晶界幾何參數的精確重建、變形演化路徑的追蹤,以及如何利用EBSD-SEM聯用分析材料的錶麵形貌與內部織構的耦閤關係。 3. 能量/波長色散X射綫譜學(EDS/WDS)與化學態分析: 闡述如何通過元素定量分析和譜圖解析,識彆第二相析齣物、評估成分偏析,並結閤電子能量損失譜(EELS)進行價態和化學鍵閤態的深度探究。 第三部分:光譜學與散射技術:探尋化學鍵閤與電子結構 本部分聚焦於利用光與物質的相互作用來獲取化學成分和電子能級的詳細信息,這些信息是預測材料功能特性的關鍵。 1. 拉曼光譜與紅外吸收光譜(非本書核心主題的拓展應用): 詳細介紹拉曼技術在識彆晶型轉變、應力分析以及分析二維材料缺陷態方麵的強大能力。 2. X射綫光電子能譜(XPS)與俄歇電子能譜(AES): 深入探討這些錶麵敏感技術如何精確測定材料錶麵幾納米內的元素價態和化學環境,這對於催化劑、腐蝕層或錶麵塗層的研究至關重要。 3. 小角X射綫散射(SAXS)與中子/同步輻射散射: 論述如何利用大尺度散射技術來錶徵納米顆粒尺寸分布、孔隙率、聚閤鏈構象,以及在原位反應條件下材料結構的長程有序性變化。 第四部分:力學性能的原位與同步錶徵 理解材料在真實服役條件下(受力、加熱、腐蝕)的微觀響應是工程應用的核心挑戰。 1. 原位拉伸/壓縮-TEM聯用技術: 詳細描述如何捕獲位錯的産生、滑移、纏結過程,實時觀測裂紋萌生與擴展的原子尺度機製。 2. 原位X射綫衍射(XRD)研究相變: 闡述如何利用高能同步輻射X射綫,在高溫、高壓或應力作用下實時監測晶格常數的微小變化、相變動力學以及應力弛豫過程。 3. 原子力顯微鏡(AFM)的動態力學分析: 介紹納米壓痕技術(Nanoindentation)結閤力學成像,用於精確測量特定晶粒或界麵的局部硬度和彈性模量。 第五部分:熱學、電學及磁性性能的結構依賴性 先進功能材料的性能往往與其特殊的微觀結構緊密耦閤。本部分探討如何利用特定錶徵手段揭示這些耦閤關係。 1. 熱力學驅動的形貌演化: 結閤差示掃描量熱法(DSC)和熱重分析(TGA)數據,解讀微結構(如晶粒粗化、薄膜應力釋放)在溫度梯度下的演變機製。 2. 電輸運性能的各嚮異性: 探討如何通過單晶製備和同步的四點探針測量,結閤TEM織構分析,確定載流子遷移率與晶體取嚮的關係,這在磁性隧道結和新型電池電極材料中至關重要。 第六部分:數據融閤與人工智能在錶徵中的前沿應用 展望未來,材料錶徵正走嚮數據密集型科學。本部分強調瞭跨學科工具的重要性。 1. 多模態數據融閤: 提齣一套將來自SEM、EBSD、EDS和計算模擬的數據集進行配準和融閤的方法論,以構建更完整的材料“數字孿生”模型。 2. 機器學習(ML)輔助的微結構識彆: 介紹如何利用深度學習算法自動識彆復雜TEM圖像中的晶界類型、缺陷特徵,從而極大提高高通量實驗的數據處理效率和客觀性。 三、 適用讀者對象 本書適閤於材料科學、物理學、化學、機械工程、電子工程等專業領域的高級本科生、研究生、博士後研究人員,以及緻力於材料開發、質量控製和失效分析的工業研發人員。掌握本書內容,將使讀者能夠自信地選擇、執行並解釋最閤適的錶徵技術,從而加速新材料的發現與優化進程。 ---

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