Flat Panel Display Technology and Display Metrology

Flat Panel Display Technology and Display Metrology pdf epub mobi txt 電子書 下載2026

出版者:Society of Photo Optical
作者:Gnade, Bruce Edward (EDT)/ Kelley, Edward F. (EDT)
出品人:
頁數:250
译者:
出版時間:
價格:1390.55元
裝幀:Pap
isbn號碼:9780819431073
叢書系列:
圖書標籤:
  • Flat Panel Display
  • Display Technology
  • Display Metrology
  • LCD
  • OLED
  • AMOLED
  • Display Measurement
  • Image Quality
  • Optics
  • Materials Science
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具體描述

《微觀世界與宏觀視野:現代材料科學基礎與前沿應用》 圖書簡介 本書旨在為讀者提供一個全麵而深入的現代材料科學知識體係,涵蓋瞭從基礎理論到尖端應用的廣闊領域。我們聚焦於材料的結構、性能、製備與錶徵等核心要素,力求構建起一座連接微觀原子層麵理解與宏觀工程應用之間的堅實橋梁。本書的撰寫遵循嚴謹的學術標準,同時注重知識的係統性和可讀性,適閤高年級本科生、研究生,以及相關領域的研究人員和工程師參考。 --- 第一部分:材料科學的基石——結構與熱力學(約 350 字) 本部分奠定瞭理解所有工程材料的基礎。首先,我們將詳細探討晶體結構、晶格缺陷的類型及其對材料宏觀性能的決定性影響。從簡單的麵心立方到復雜的晶體結構,我們將運用點群理論和倒易點陣等高級概念,深入解析晶體取嚮對機械、電學和光學特性的調控機製。缺陷工程——位錯、空位、間隙原子和晶界——不再是簡單的“瑕疵”,而是實現材料功能化的關鍵。 緊接著,我們深入材料熱力學。重點解析吉布斯自由能、相圖的構建原理及其在閤金設計中的應用。這包括瞭理解固溶體、化閤物的形成條件,以及相變動力學的重要性。我們不僅討論平衡態下的熱力學,更將觸及非平衡過程,如快速凝固和熱力學驅動的微結構演化,為後續的製備技術打下理論基礎。 --- 第二部分:機械性能與結構控製(約 400 字) 機械性能是評估材料作為結構件或功能部件的首要指標。本部分係統梳理瞭彈性、塑性、蠕變和疲勞等核心力學行為。彈性形變部分,我們不僅關注楊氏模量和泊鬆比,更引入瞭各嚮異性材料的應力-應變張量分析。 塑性變形的探討深入到位錯運動的機製,包括位錯的交滑移、攀移及其與晶界的相互作用。我們詳細分析瞭加工硬化、形變孿晶等現象背後的微觀機理。 疲勞和斷裂力學占據瞭重要篇幅。從宏觀的應力強度因子到微觀的裂紋萌生與擴展,我們覆蓋瞭Paris定律、Willenborg窗理論等關鍵模型。特彆地,本書引入瞭韌性斷裂的概念,解釋瞭斷裂韌性($K_{IC}$)的量化方法,以及如何通過引入第二相粒子或梯度結構來提升材料的抗疲勞壽命。 此外,我們探討瞭如何通過熱處理(如淬火、迴火、時效)和塑性加工(如軋製、鍛造)來精確控製材料的微觀結構,從而實現所需的力學性能組閤,例如高強度鋼和形狀記憶閤金的設計原理。 --- 第三部分:電學、磁學與熱學功能材料(約 400 字) 功能材料是現代科技進步的核心驅動力。在電學性能方麵,本書詳細解析瞭導體、半導體和絕緣體的主要區彆,深入探究瞭能帶理論在解釋載流子遷移率和導電機製中的作用。對於半導體,我們著重分析瞭摻雜效應、PN結的形成及其在二極管、晶體管中的應用原理。 磁性材料部分,我們從朗之萬理論齣發,逐步過渡到居裏點、磁疇理論以及磁滯迴綫的形成機製。重點介紹瞭軟磁材料(如鐵氧體)和硬磁材料(如稀土永磁體)的設計哲學,以及磁阻效應(GMR/TMR)在傳感器和存儲器件中的新興應用。 熱學性能部分,我們關注材料的熱導率、熱膨脹係數和熱容。特彆是對熱電材料——能夠實現熱能與電能相互轉換的材料——進行瞭深入剖析,闡述瞭塞貝剋效應、珀爾帖效應,並引入瞭無量綱優值 $ZT$ 的概念及其優化策略。 --- 第四部分:先進材料的製備與錶徵前沿(約 350 字) 本部分側重於如何將理論轉化為實際的先進材料。在材料製備方麵,我們涵蓋瞭從傳統方法到尖端閤成技術的廣泛譜係: 1. 粉末冶金與燒結: 解釋瞭顆粒尺寸、燒結氣氛和添加劑對最終緻密度的影響。 2. 薄膜沉積技術: 詳述瞭物理氣相沉積(PVD)和化學氣相沉積(CVD)的原理及其在錶麵改性中的地位。 3. 增材製造(3D打印): 分析瞭激光選區熔化(SLM)等技術如何實現復雜結構的梯度材料設計,以及層間結閤的冶金挑戰。 材料的錶徵是理解其性能的前提。本書將詳細介紹幾種關鍵的無損和破壞性測試方法: 結構分析: X射綫衍射(XRD)用於晶體結構鑒定,透射電子顯微鏡(TEM)用於原子尺度成像與微區成分分析(EDS/EELS)。 形貌與錶麵分析: 掃描電子顯微鏡(SEM)和原子力顯微鏡(AFM)在錶徵錶麵形貌和粗糙度上的應用。 性能測試: 動態熱機械分析(DMA)、振動樣品磁力計(VSM)等專業儀器的操作原理和數據解讀。 通過對這些基礎理論、核心性能和尖端技術的係統闡述,《微觀世界與宏觀視野:現代材料科學基礎與前沿應用》旨在培養讀者以材料科學的視角,分析和解決復雜工程問題的能力。

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