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Scanning Microscopy for Nanotechnology

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Scanning Microscopy for Nanotechnology pdf epub mobi 圖書描述

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book is written by international experts from the top nano-research groups that specialize in nanomaterials characterization. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

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發表於2024-11-08

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出版者:Springer Verlag
作者:Zhou, Weilie (EDT)/ Wang, Zhong Lin (EDT)
出品人:
頁數:552
譯者:
出版時間:2006-11
價格:$ 224.87
裝幀:HRD
isbn號碼:9780387333250
叢書系列:

圖書標籤:  


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