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数字集成电路测试优化 2024 pdf epub mobi 电子书

数字集成电路测试优化
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发表于2024-09-08

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页数:344
译者:
出版时间:2010-6
价格:58.00元
装帧:
isbn号码:9787030278944
丛书系列:

图书标签:  

数字集成电路测试优化 2024 pdf epub mobi 电子书 图书描述

《数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度》内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面：测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理，激励压缩的有效方法，测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理，静态测试功耗优化方法，动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测试压缩与测试调度协同优化方法；并以国产64位高性能处理器（龙芯2E和2F）为例介绍了相关成果的应用。

全书阐述了作者及其科研团队自主创新的研究成果和结论，对致力于数字集成电路测试与设计研究的科研人员（尤其是在读研究生）具有较大的学术参考价值，也可用作集成电路专业的高等院校教师、研究生和高年级本科生的教学参考书。

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